日本神视SUNX高速轮廓测量仪 返回列表页

日本神视SUNX高速轮廓测量仪

柱面物镜将激光光束扩大为条状，
随后激光在目标物上产生漫射。
反射光在HSE3-CMOS 上成像，
通过检测位置、形状的变化来测量位移和形状。
类型
蓝色半导体激光
波长
405 nm(可见光)
激光分类
2M 类激光产品*2
(IEC60825-1、FDA(CDRH) Part 1040.10*3)
采样周期(触发间隔)
作为2D 激光位移传感器，本产品在上率采用蓝色激光。
利用2D Ernostar 物镜将405 nm 短波长激光极限聚焦，
从而在光接收组件上清晰成像。生成稳定的高精度轮廓。
对所有检测困难的工件都可实现稳定的高精度测量
Z快16µs(高速模式)
Z快32µs(高性能模式)

日本神视SUNX高速轮廓测量仪

温度特征
0.01% 的F.S./°C
外壳防护
IP67(IEC60529)
白炽灯： Z大10000 lux
环境温度
0 +45°C
相对湿度20 85%(无冷凝)
抗震性15G / 6 msec
抗振性10 57 Hz多重放大1.5 mm ；X、Y、Z 方向各3 小时
*1 无法使用 W 偏光功能。
*2 请不要用光学器材(如双目放大镜、放大镜、显微镜、望远镜及双筒望远镜)直接观测激光光束。
用光学器材观察激光输出可能会对眼睛造成伤害。
*3 依据FDA(CDRH) 的Laser Notice No.50，
基于IEC60825-1 基准实施别分类。
激光轮廓测量仪可测量反射率较低的黑色或斜面及反射率较高的金属，

日本神视SUNX高速轮廓测量仪