深圳市海光科技有限公司
半导体膜厚测试仪* 仪器的特长:广泛应用型可测元素:AL~U
* X射線管:小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)
半导体膜厚测试仪2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到国外,而大部分企业部门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,国家没有一个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于一种混乱的状态。
半导体膜厚测试仪由于X光测厚仪是在线测量仪表,检测的厚度是钢板热态时的厚度,这样会和冷态时的厚度有一定的偏差,所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持*。同样如果轧制材质有变化时,也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测,计算出合金补偿系数,也可以使测量数据和实际材质厚度保持*。
* 仪器的特长:广泛应用型可测元素:AL~U
* X射線管:小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)
* 管电压:45kV
* 管电流:1mA Be
* 窗滤波器:一次滤波器:A1-
* 自动切换二次滤波器:Co-
* 自动切换检测器:比例计数管
* 样品观察:CCD摄像机
* 对焦方式:激光自动对焦
* 测定软件:世界上zui的FP法。数学计算测量方法 .
* 安全机能:测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能 仪器自诊断功能
* 仪器介绍:测量数据与Word和Excel链接自动生成报告和数据处理
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