功能状态分级一般规定：

描述DUT在试验期间及试验后所处的功能状态。

对每个试验应给出zui 低功能状态，附加试验要求由生产商和供应商商定。

在以下级别确认期间，不应对DUT进行额外操作。

A 级-试验中和试验后，装置/系统所有功能满足设计要求。

B 级-试验中装置/系统所有功能满足设计要求，但允许有一个或多个超出规定允差。试验后所有功能应自动恢复到规定限值。存储器功能应符合A 级。

C 级-试验中装置/系统所有功能满足设计要求，但试验后所有功能自动恢复到正常运行。

D 级-试验中装置/系统一个或多个功能不满足设计要求且试验后不能自动恢复到正常运行,需要对装置/系统通过简单操作重新激活。

E 级-试验中装置/系统一个或多个功能不满足设计要求且试验后不能自动恢复到规定运行,需要对装置/系统进行修理或更换。