云谱仪器(上海)有限公司
CS225数显测力台
品牌:美国Chatillon
产地:美国
符合标准:
应用领域:科研、包装、纺织、塑料、金属等材料
CS225数显测力台
zui大量程:225磅/1000N
CS225数显测力台
负载精度:满量程的±0.25%(非传感器);满量程的±0.1%(传感器)
测试速度范围:0.01-1270mm/min
位移分辨率:0.01mm
有效行程:500mm
人体工程学设计
简单的操作菜单、模板提示
可设置安全访问级别
可显示表格和图形结果
可将数据存到闪存
数据可直接导出到Excel和OLE2格式
TAG:CS225数显测力台
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