摄像头/高低温冲击测试箱；试验设备采用整体式组合结构形式，即试验箱由位于上部的高温试验箱，位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜（系统）所组成。

高低温冲击测试箱产品用途：适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校

摄像头/高低温冲击测试箱：满足以下标准：

GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温

GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

GB/T5170.1-2008电工电子产品环境试验设备检验方法总则

GJB150.3A-2009装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验

GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验

GJB150.5A-2009装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验

GJB360B-2009电子及电气元件试验方法方法107温度冲击试验