15J刻度测量显微镜

15J刻度测量显微镜产品用途：

刻度测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下：

1.直角坐标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔外圆直径等等。

2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板，量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3.用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制板，检验纺织纤维等等。

15J刻度测量显微镜主要技术参数：

测量工作台读15J刻度测量显微镜数装置主要规格：

1、X轴移动测量范围：         50mm
2、Y轴移动测量范围：        13mm
3、测微器分度值：          0.01mm
4、测量台转动范围：不限
5、测量台刻度盘分度范围：0°～360°
6、测量台刻度盘之分度值：       1°
7、测量台刻度盘游标读数示值：   6"
15J刻度测量显微镜测量精度：

仪器示值误差:±5+L/15微米
仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差。

注：測量地点温度变化（20°±3°）C

L－－－－被测件长度（mm）
15J刻度测量显微镜仪器之主要尺寸：