產品用途：
加速壽命試驗的目的是提高環境應力如：溫度與工作應力施加給產品的電壓、負荷等，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
用於調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分佈函數呈什麼樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，採用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCTHAST 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC國際電工委員會所標準化。
產品特點：
■ 智慧型排氣設計鍋爐內空氣抽出提高壓力穩定性、再現性
■ 長時間實驗機台運轉400小時超長效實驗運轉時間
■ 內建USB2.0&磁碟機數位記錄器儲存介面創新USB2.0儲存介面
■ 箱體耐壓力140℃2.65kg，符合水壓測試6kg tank耐壓設計
■ 二段式壓力安全保護裝置採兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置
■ 安全保護排壓鈕緊急安全裝置二段式自動排壓鈕
溫濕度可控制能力範圍表 – Temperature & Humidity Range
温度范围：105℃～132℃
湿度范围：75%~/105℃~132℃
