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leeb251涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。
leeb251涂层测厚仪技术参数：
测头类型 | Leeb251 | |
测头类型 | N1 | |
工作原理 | 电涡流 | |
测量范围 | 0~1250μm | |
低限分辨率 | 1μm | |
示值误差 | 一点校准 | ±（3%H+1） |
二点校准 | ±[（1~3%）H+1] | |
测试条件 | zui小曲率半径mm | 凸1.5、凹9 |
zui小面积直径mm | Φ7 | |
基本临界厚度mm | 0.5 | |
工作环境 | 温度 | 0~40℃ |
湿度 | 20%~90% | |
电源 | AAA型碱性电池1.5V四节 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm（主机） | |
重量 | 120g | |
标准配置 | 主机、标准试片、基体、AAA型碱性电池 | |
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