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(仪征培明)多功能智能频率计 YZ-2003 (0.001 Hz--2.4GHz)

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更新时间:2016-04-20 09:51:24浏览次数:159次

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产品名称:(仪征培明)多功能智能频率计 YZ-2003 (0.001 Hz--2.4GHz) 品牌: 型号:YZ-2003
产品价格:230

YZ-2003型多功能智能频率计
使用说明书
一、 概述
尊敬的用户,感谢您选用本仪器。在使用前请您通读并弄懂本仪器的细节,以便正确操作,从而取得的效果。
本仪器是一个0.001Hz—2.4G的多功能智能频率计,功能有:频率测量、累计计数、周期及晶体测量,工作状态记忆等功能,可直测数字手机的射频频率(国内市场尚未出现)、手机GSM制射频帧周期,区别手机制式(GSM或CDMA),以及晶体固有频率的测量,全部功能由一个单片计算机来完成,故仪器体积小巧、简洁紧凑,功能多,性能可靠,且价格低廉,实是一部修理行业以及电子生产厂调试*的仪器。
二、技术指标
(一)频率测量
A、量程:
1档 30 MHz — 2400 MHz
2档 1 MHz — 30 MHz(具有衰减,“A”抬起,x 1;“B” 按下,x 20)
3档 10 Hz — 1 MHz(具有衰减,“A”抬起,x 1;“B”按下,x 20)
8档 0.001 Hz — 100 Hz(输入幅度:2.5V—5V,TTL电平)
B、闸门时间:0.1秒、1秒、5秒、10秒共分4档
C、输入灵敏度:35 mV — 30 V
D、输入阻抗:30 MHz — 2.4 GHz为50 Ω、其余为1 MΩ
E、时基:12 MHz,稳定度为2 x 10-6/秒
F、精度:基准时间误差 x 频率 + 1个计数值
G、分辩率:1个计数值(满量程8位数显示时)
(二)周期测量
6档(下降沿有效),由“常态/放大”开关进行选择。10 Hz—30 MHz输入端输入。输入幅度2.5—5V,TTL电平,zui大不超过5V。zui小周期为30us,zui大周期为4294967295us,可显示周期数值99999999,分辩率为1us。
(三) 累计计数:4档位10 Hz—30MHz 输入端输入,其分辩率为1个计数值。
(四) 晶体测量:5档位 插口A测30 KHz — 5MHz(晶体键弹出),插口B测2 MHz — 24 MHz晶体,实际可测到50MHz(晶体健按下)。
三、 本仪器的特点
A、测量范围宽、精度高:可测0.001Hz—2400MHz的正弦波、方波、三角波等信号的频率。
B、具有多种测量功能:
① 可测数字手机的射频频率(815—960MHz、1800—1990MHz)以及对讲机、无线机的发射频率。
② 可识别手机的制式(GSM或CDMA)。
③ 可测GSM制的射频周期(周期为4615us)。
④ 可测石英晶体振荡器的固有频率(30 KHz — 50MHz)。
⑤ 可测输入信号的周期。
⑥ 可对输入信号累计计数,切断仪器电源后能保存上次的原有状态,及具有记忆功能。
四、 仪器的使用
A、频率的测量:
① 选择合适的信号输入端:本仪器面板左边有三个信号输入端,zui上为30MHz—2.4GHz信号输入端,中间为10Hz—30MHz信号输入端,下面为0.001Hz—100Hz信号输入端,(2.5V—5V有效)。
② 按动“闸门”按键,选好合适的闸门时间,每按动一次“闸门”按键,闸门时间就变化一次,按照0.1秒—1秒—5秒—10秒循环变化。闸门时间越长,分辨率越高,但测试速度也越慢。
③ 按动“档位”按键,测频率应选择1、2、3、8各档位中的一个,每档测量频率范围如下:
1档 30MHz——2400MHz
2档 1MHz—30MHz(具有衰减,“A”抬起,x 1;“B”
按下,x 20)
3档 10Hz—1MHz(具有衰减,“A”抬起,x 1;“B”按
下,x 20)
8档 0.001Hz—100Hz(输入幅度:2.5V—5V,TTL电平)
④ 按“确定”键后,即开始测量并显示。
由于低频率时是高阻抗,而测试的频率为低阻抗(如测试50Hz交流电源),此时会产生阻抗严重失配,可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。
B、周期的测量:
① 可测量周期的范围:30us—1.19 h,但zui多只能显示8位数字。
② 选用中间一个输入端口,测小信号时(35MV—5V)按下“常态/放大”键,“A、B“抬起。测大信号时,“A、B”键和“常态/放大”键同时按入。
③ 如TTL电平从zui下面的输入端输入,幅度为2.5V—5V有效,“常态/放大”键和“A、B”键均抬起。
④ 按动“档位”键,选第6档,按“确定”键后即开始测量并显示,单位为微秒。
C、累计计数的方法:
① 选用10Hz—30MHz端口作累计计数输入端。
② 档位选第4档,按下“确定”键后即开始计数。
③ 停止计数需切断信号源。
D、石英晶体固有振荡频率的测量:
① 选好合适的晶体测量口:本仪器面板提供两个晶体测量口,由面板A、B晶体按键来选择。A口可测30KHz—4MHz晶体,B口可测2MHz—24MHz晶体(实际可测到50MHz以上的晶体,24MHz以上晶体用显示值乘以3即为实际振荡频率)。
② 按动“闸门”键,选好合适的闸门时间。
③ 按动“档位”键,选第5档,按“确定”键后即开始测量并显示。
E、手机制式的识别:
① 在30MHz—2.4GHz输入端口插一根长约5公分左右的导线作接收天线。
② 选第6档位,按“确定”键,“常态/放大”键抬起。
③ 用手机拨号后如出现4615us或它的整频倍时,则表明该手机是GSM制式,反之是CDMA制。测量时出现7-8个微秒的误差属正常现象。
F、手机发射频率的测量:
① 在30MHz—2.4GHz输入端口插一根长约5公分左右的导线作接收天线。
② CDMA制手机和模拟手机选用第1档,GSM手机选用第7档,闸门均选用0.1秒,“常态/放大”键抬起。
③ 按“确定”键后,用手机拨号即可测出并显示手机发射频率。
五、 注意事项
①测量高频强辐射信号时,无线方式应远离信号源,有线方式应串接大电阻,如果信号超过30V时,还应按下面板A、B晶体选择按键(20倍衰减器)以免损坏仪器。
②本机在无信号输入时,可能是非零显示,这是正常现象,不影响测试精度。
③有时仪器可能出现下列现象:数码管显示出非正常数字(缺笔画),数码管会停止刷新数字,这并非仪器出现故障,只要再按一下复位键,仪器便可恢复正常工作。
④本机采用新版CPU,程序已经过加密处理。如用户私自解密造成程序损坏,
不属保修范围。
⑤测量手机射频和帧周期时,并不是稳定地显示某一数值,这是手机通信原理所决定的,并非仪器不稳定。
⑥8档位的测量单位是Hz,6档位的测量单位是微秒。
⑦测对讲机发射频率应根据对讲机的频率范围选择合适的档位,且对讲机应由远近靠近频率计。
⑧测BP机,子母机,对讲机的本振频率应在探头上串接一只5 P左右的小电容后去探测测量点。
⑨测量手机射频频率,测周期,测射频帧周期,计数和测晶体,共用了一个指
示灯。
六、 其它
①电源:交流220 V±20 %、50 Hz
②环境温度:-5℃- + 40℃(正常工作时需预热10分钟)
③相对湿度:10%-90% RH
④外形尺寸:202mm (宽)x 75 mm(高)x 230 mm(长)
⑤重量:约1Kg
⑥附件:测试电缆线一根,电源线一根,说明书一份。

 

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