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NANOMAP-1000WLI 白光干涉三维形貌仪-高低温试验箱

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更新时间:2017-06-30 16:01:26浏览次数:230次

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所在地区:北京北京市

联系人:李娜 (经理)

产品简介
产地 进口 加工定制

美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的*供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。公司始终致力于微观表面“三维"检测技术和设备的研发及推广,历经近十年努力,已为30多个国家提供NanoMap系列三维表面形貌测量系统。

详细介绍


特点:
1.     真正的非接触式三维测量
2.     测量轮廓台阶高度范围从小于1nm到高达10mm
3.     基于白光干涉的高精度定量共焦模式,自动调焦,垂直分辨率高达0.1nm
4.     高速扫描,无须制样,无须真空,金属非金属均可,快速直观,操作方便
5.     *的综合图象处理软件,致力于采集,分析,统计和可视化数据处理等
 
强大的软件功能:
SPIP提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值, 交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。
 
主要技术参数
物镜倍数: 50x,20x,10x,5x任意可选,zui多可同时搭载6枚物镜
垂直分辨率 0.1nm, 0.02nm(高精度模式)
CCD相机像素:1024×1024
扫描范围: 150mm x 150mm
 
 
 

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