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AF210数字式覆层测厚仪
AF210数字式覆层测厚仪是磁性便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。
主要特点：
采用了磁性测厚方法，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）;
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（GROUP）；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）；
可采用两种方法仪器起进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有存贮功能：可存贮500个测量值；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；
具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图；
具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理；
具有电源欠压指示功能；
操作工程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；
测头类型 | F | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围(µm) | 0~1250 | |
低限分辨率(µm) | 0.1 | |
示值 | 一点校准(µm) | ±(3%H+1) |
二点校准(µm) | ±[(1~3%H)+1] | |
测试条 | zui小曲率半径(µm) | 凸1.5 |
zui小面值的直径(mm) | Φ7 | |
基体临界厚度(mm) | 0.5 | |
覆盖层基体 | 有机材料等非磁性覆盖层(如：漆料、涂料塑料、搪瓷和阳极化处理等) |
如铁、钢等磁性金属 | F性探头 测量范围：0µm~1250µm |
如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属 | N型探头 测量范围： 0µm~1250µm |
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