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行业产品
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当前位置:北京中慧天诚科技有限公司>>仪器仪表>>其它仪器仪表>> NKCV/HS2100F数显覆层测厚仪 美国 型号:NKCV/HS2100F
产品型号NKCV/HS2100F
品 牌中慧
厂商性质其他
所 在 地北京市
更新时间:2017-08-11 15:08:41浏览次数:218次
详情介绍
产品简介:
概 述: 本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。配置不同的探头,适用于不同场合。是材料保护和生产控制仪器。 适用范围: NKVV/HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。 主要功能: 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量;三种校准方法: 一点校准、二点校准、基本校准;显示分辨率: 0.1μm(测量范围小于100μm) 1μm (测量范围大于100μm) 有两种工作方式:直接方式和成组方式有两种测量方式:连续测量和单次测量有两种关机方式:手动关机和自动关机可设置限界:对限界外的测量值能自动报警,并可用直方图对一批测量值进行分析;有删除功能:对粗大误差及错误设置可进行删除处理;打印功能:可打印测量测量值、统计值、限界、直方图 测量范围: (1)F400探头、N400探头:0—400μm(2)F1探头、F1/90探头、N1探头:0—1250μm(3)F10探头:0—10000μm(4)CN02探头:10-200μm(根据测量要求选用不同探头) 测量精度: 不同探头精度要求不同(1)F400探头、N400探头:一点校准:(2%+0.7);二点校准:(1%+0.7)(2)F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头:一点校准:(2%+1);二点校准:(1%+1)(3)F10探头:一点校准:(2%+10);二点校准:(1%+10) 使用温度: 0~40℃ 外型尺寸: 150×80×30m 重 量: 250g
功能
NKCV/HS2100F
NKCV/HS2100N
NKCV/HS3100
NKCV/HS4100
测量原理
磁性
涡流
磁性/涡流
测量范围
标准配置探头(F1/N1):1~1250μm
测量精度
±(2%H+1)μm(零点校准)±[(1~3)%H+1] μm(二点校准)
统计量
平均值(MEAN)、Z大值(MAX)、Z小值(MIN)、测试次数()、标准偏差(S.DEV)
存贮和统计
15个测量值
零点校准
√
二点校准
删除功能
自动关机
蜂鸣声提示
测量方式
欠压指示
错误提示
标准配置
主机F1探头基体校准片说明书包装箱
主机N1探头基体校准片说明书包装箱
主机F1(N1)探头基体校准片说明书包装箱
主机打印机F1(N1)探头基体校准片说明书包装箱
选配件
F1、F400、F10测头N1、N400测头
通讯软件F1、F400、F10测头N1、N400测头
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