德国菲希尔X射线分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD 返回列表页

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

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FISCHERSCOPE®X-RAY XDV-SDD系列是Fischer的高级产品线之一。 它配备了具有高能量分辨率的硅漂移检测器。 结合大口径，XDV-SDD系列可实现出色的测量结果。 大型，易于接近的测量室使其既适用于组件上的fl的测量，也适用于几何形状复杂的大型样品。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD是Fischer强大的X射线设备之一。它的硅漂移检测器对轻元素的X射线辐射很敏感。这允许非常低的检测限以及与NiP，RoHS和非常薄（<0.05 µm）的薄膜有关的测量应用。这就是XDV -SDD在研发，实验室和过程认证设置中表现出色的原因。另外，它的易用性使其在生产控制中很重要。

NiP / Fe：P浓度和层厚

钝化层：Cr / Zn / Fe

XDV-SDD系统特别适合于痕量分析和污染物限值的快速监控。例如，在塑料中，它可以用来检测关键化学元素，例如Pb，Hg和Cd，其检测限仅为几ppm。

特点：

● 配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器（SDD），能高精度地测量很薄的镀层
● 很耐用的设计结构，能以非常出色的长期稳定性用于连续测量
● 可编程XY平台和Z轴，用于自动化连续测量
● 拥有实时的视频显示和辅助激光点，使得样品定位变得快速而简便

应用 镀层厚度测量 ➤ 测量非常薄镀层，如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层 ➤ 测量汽车制造业中的硬质涂层 ➤ 光伏产业中的镀层厚度测量

材料分析 ➤ 电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质（如重金属）进行鉴别 ➤ 分析黄金和其他贵金属及其合金 ➤ 测定功能性镀层的组分，如NiP镀层中的P含量