EFI模块测试系统是由NI测试仪、模拟负载箱、电源、条码扫描和测试夹具五部分组成。测试人员手动将模块放入夹具，并将条码扫描以后，系统将自动执行模块功耗、输入端对地电阻、A/D采样值、输出端漏电流、FET钳位电压、E2PROM校验等多项检验。同时记录检测数据及通过/失败状态，并将数据自动存储为TXT文件用于将来的数据分析。
　　
　　一、硬件结构
　　
　　EFI测试系统的硬件结构参见图1。　　　　
　　它包括NI测试仪（CPU、DAQ、OSC、WAVEFORMGENERATE、MATRIXSWITCH）、模拟负载箱、电源、条码扫描和测试夹具五部分。
　　
　　模块的检测包括输入端口硬件、输出端口硬件及特定工况下的功能检测三部分。为完成输入端口的硬件检测，选用PXI－6070E多功能卡进行数据采集，它有64路12位模拟量输入，2路模拟量输出，及八条数字I/0端口。端口切换选用了NI-2503开关卡，它是双线24位开关卡，负责将被测试端口与采集卡PXI-6070E相连。
　　
　　同样，对输出端的硬件切换由另一块NI-2503卡完成。数据采集使用NI-5112示波器卡完成。它的100MHz频宽可以确保对点火及喷油脉冲的采集。采集到的数据将会放到的缓冲区中。通过进行数据分析，我们就可以得到输出信号脉冲的zui大值及频率值。
　　
　　完成硬件的检测后,同样利用BOOTSTRAP模式,将标定数据送入模块E2PROM中,然后将芯片切换到单片模式。模拟正常工况检测模块工作状态，完成特定工况下的功能检测。通过以上的测试,确保了模块的可靠性。
　　
　　二、软件设计
　　
　　在拥有计算机及相应硬件卡的环境下，LABWINDOWS以其基于C语言的开发环境，良好的用户界面（如图2所示）、强大的库函数和方便快捷的调试手段，使设计者能以zui快的速度设计、调试和开发实际的测试系统，大大降低了工作量。　　　　
　　模块检测系统软件可以工作在三种模式下：
　　
　　A.硬件诊断模式
　　
　　B.功能测试模式
　　
　　C.EOL测试模式
　　
　　对输入端口的硬件检测，可以通过调用NI-2503，NI-5112及PXI-6070E的驱动函数，来非常方便地完成。
　　
　　芯片的A/D采样值及输出端口的硬件检测，需要下载测试程序（使用汇编语言编写约1KB）。利用软件编程,首先要进入68HC11的BOOTSTRAP模式，然后将测试程序下载到芯片。通过调用测试程序的子程序，可以完成包括读/写芯片RAM、E2PROM区，校验RAM、E2PORM区，A/D采样值读取，设定PWM输出脉冲，校验版本号等多项功能。
　　
　　功能测试时，使芯片工作在单片模式，通过调用NI-5411任意波型发生器驱动函数来模拟转速信号的60-2波型，同时输入相应的电压信号，模拟各传感器信号输入，完成特定工况下的功能测试。
　　
　　所有测试结果将会存入到的文件中，用于统计CPK及数据分析。
　　
　　三、分析评价
　　
　　通过以上实际应用，LABWINDOWS软件开发的测试系统具有以下显著优点：
　　
　　1.加快了系统的开发周期，降低了开发难度。使用LABWINDOWS可以方便地调用硬件驱动程序及功能函数,降低了工作强度，加速了开发进程。
　　
　　2.减少了测试周期。使用LABWINDOWS，使数据传输速度及测量时间得到提高,减少了产品的测量时间，每个模块的测量时间小于50s。
　　
　　3.具有很高的通用性。使用相同的硬件环境，仅对软件进行微调，就可以测量ECS、DIS等系列产品。