离子减薄制样技术属于离子束加工的范畴。其方法是用高能离子束轰击样品表面、高能离子与样品表面原子发生弹性碰撞、样品表面原子能量增大至高于该原子的逸出功时,便飞离样品,这样就使样品表面不断失去原子——减薄。通常都是用双枪从样品两侧轰击。样品随着支架旋转,使离子束轰击均匀。离子束的强度呈钟形分布,中心强。后在样品中心出现穿孔。在孔的周围有一圈楔形薄区可在透射电子显微镜中观察。正文编辑区域参考资料编辑区域
查看详情离子减薄制样技术属于离子束加工的范畴。其方法是用高能离子束轰击样品表面、高能离子与样品表面原子发生弹性碰撞、样品表面原子能量增大至高于该原子的逸出功时,便飞离样品,这样就使样品表面不断失去原子——减薄。通常都是用双枪从样品两侧轰击。样品随着支架旋转,使离子束轰击均匀。离子束的强度呈钟形分布,中心强。后在样品中心出现穿孔。在孔的周围有一圈楔形薄区可在透射电子显微镜中观察。正文编辑区域参考资料编辑区域
查看详情摘要 TEM Mill 作为采用技术制造的精密离子研 磨及抛光系统,提供可靠、高性能的样品制备 能力,能够为透射电镜制备满足电子束穿透的 大面积薄区样品,同时具备紧凑、精确以及高 稳定性的优点。
在线询价摘要设备介绍离子减薄仪(PrecisionIonPolishingSystem),为整套TEM样品制备的道工序,经氩离子减薄的样品可在TEM下直接观察,入射角可以从10至-10,制样速度快,能够以最小的耗费制备出高质量的TEM样品;仪器操作方便快捷;配备了低能量离子枪功能...
在线询价摘要Leica EM RES102 通过离子枪激发获得离子束,以一定入射角度对样品进行轰击,以去除样品表面原子,从而实现对样品的离子束加工。Leica EM RES102主要功能为:对无机薄片样品进行离子减薄,使得薄片样品可被透射电子穿过,从而适宜TEM透射电子显微镜观察...
在线询价摘要 使用徕卡 EM RES102多功能离子减薄仪,使您的样品具备的灵活性,具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。
在线询价摘要Leica EM RES102 多功能离子减薄仪通过离子枪激发获得离子束,以一定入射角度对样品进行轰击,以去除样品表面原子,从而实现对样品的离子束加工。Leica EM RES102主要功能为:对无机薄片样品进行离子减薄,使得薄片样品可被透射电子穿过,从而适宜TEM透...
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