半导体高低温冲击测试箱/半导体电子器件冷热冲击试验箱特别适用于半导体电子器件做温度破坏测试，主要测试半导体电子器件材料结构在瞬间下经温及温的连续冲击环境下所能忍受的程度，得以在Z短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和试验室，产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮起移动的。
爱佩半导体高低温冲击测试箱/半导体电子器件冷热冲击试验箱质量优势：主要核心配件均采用*的配件如法泰康或德比泽尔压缩机，控制器有韩三元、日本OYO、中中国台湾台通三*供客户选择，继电器有日本路宫、和泉、三菱、施耐德，美杜邦环保冷媒，丹麦(DANFOSS)、瑞典（AlfaLaval）等配件，假罚十，能确保冷热冲击试验箱长期正常的运行。
半导体器件（semiconductor device）通常，这些半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。大部分二端器件（即晶体二管）的基本结构是个PN结。利用不同的半导体材料、采用不同的工艺和几何结构，已研制出种类繁多、功能用途各异的多种晶体二，可用来产生、控制、接收、变换、放大信 号和进行能量转换。晶体二管的频率覆盖范围可从低频、高频、微波、毫米波、红外直至光波。三端器件 般是有源器件，典型代表是各种晶体管（又称晶体三管）。
半导体高低温冲击测试箱/半导体电子器件冷热冲击试验箱技术参数表：
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AP-CJ-80A AP-CJ-80B AP-CJ-80C | AP-CJ-150A AP-CJ-150B AP-CJ-150C | AP-CJ-250A AP-CJ-250B AP-CJ-250C | AP-CJ-1000A AP-CJ-1000B AP-CJ-1000C | ||||
标称内容积（升） | 80 | 150 | 250 | 300 | |||
试验方式 | 气动风门切换2温室或3温室方式 | ||||||
性能 | 高温室 | 预热温度范围 | ＋60～＋200℃ | ||||
升温速率※1 | ＋60→＋200℃≤30分钟 | ||||||
低温室 | 预冷温度范围 | －75－0℃ | |||||
降温速率※1 | ＋20→－75℃≤30分钟 | ||||||
试验室 | 温度偏差 | ±2℃ | |||||
温度范围 | TSL:（+60→+150）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | ||||||
温度恢复时间※2 | 5分钟以内 | ||||||
试样搁架承载能力 | 30kg | ||||||
试样重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | |||
内部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 700 | 1000 | ||
H | 400 | 500 | 600 | 1000 | |||
D | 400 | 500 | 600 | 1000 | |||
※1半导体高低温冲击测试箱/半导体电子器件冷热冲击试验箱温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。 如需了解更多请东莞市爱佩试验设备有限公司厂家直营：或致电业务. | |||||||
