HONEYWELL 30731817-505
HONEYWELL 30731817-505
其中k 为波尔兹曼常数、T 为温度，C 为二极管的等效电容。复位噪声本质上是一个热噪声，具有随机性，只能够减小而不能够*消除。在本电路中，C=1.3 P，Vn=56 μV。
散粒噪声是指由于电子的随机到达而引起器件中电流的随机波动。因此，散粒噪声与流过器件的电流大小相关，并且服从泊松分布。散粒噪声与热噪声相区别，热噪声在没有任何电压或平均电流的条件下同样存在，而散粒噪声在没有电流条件下不存在。像素的散粒噪声与像素中的电流相关，包括光电流、暗电流。其计算公式如下：
光电流散粒噪声与照度有关，很难消除。与暗电流有关的散粒噪声可以通过改变掺杂浓度减小暗电流，但这会降低量子效率。在本电路中，In=100 fA，Is=20 pA，Tint=20 μs，C int =2 fF，则Vdarkn=0.28 mV，Vsn=4 mV。
3.2 读出电路噪声
闪烁噪声也称为1/f 噪声。在半导体材料中，晶体缺陷和杂质的存在会产生陷阱， 陷阱随机捕获或释放载流子形成闪烁噪声。在读出电路中，CTIA 放大器是闪烁噪声的主要来源。
CTIA 读出噪声与输入端电容Cin=Cpd、反馈电容Cfb，以及负载电容CL的设计均有关，其小信号噪声模型如图4 所示。
图4 CTIA 放大器噪声模型
噪声电压为
咨询 或
购买 : 或：
Fluke 196 ScopeMeter Oscilloscope Scope Meter 196B
JDSU T-BERD 6000 E8126VSRe SM Fiber OTDR 8126 VSRe VFL
Acterna Wavetek HCU-400 4-Slot PathTrak Controller HCU
GN Nettest GN-6005 GN-1315 SM Fiber Loss Test Set 6005
GN Nettest CMA4000 OTDR CMA4425 SM Fiber CMA 4000 VFL
Fluke Networks 990DSL Series 2 CopperPro Tester 990 DSL
Wavetek Ideal LT8600 Cat5 Cat5e Cat6 Cable LT-8600
IDEAL LANTEK 6 Cat5e Cat6 Cable Tester Certf LANTEK6 6A
EXFO FiberBasix 500 SM MM Fiber Loss Test Set ELS-500
170BDI34401
170XCP20000
170XTS00100
170BDO34600
170AAO12000
170XTS02000
170BNO67101
170TXS00501
170NEF11021
Fi S175 V2000 Fusion Splicer & Siecor OTDR Plus VFL
Acterna Wavetek SDA-5000 HCU-400 CATV PathTrak Controll
Acterna JDSU HST-3000C DSL Tester HST-3000 ADSLR Copper
Acterna Wavetek SDA-5000 HCU-400 CATV PathTrak Controll
GN Nettest CMA4000 OTDR CMA4436 SM Fiber 4436 CMA 4000
Sumitomo Type-62 Ribbon Fiber Fusion Splicer Cleaver
Fluke Microtest OMNIScanner Cat5 Cat5e Cat6 Certifier
Siecor Corning SM MM OTDR Plus Multitester II 340M VFL
Sumitomo Type-62 Ribbon Fiber Fusion Splicer Type 62
Fluke DTX-GFM MM Fiber 4 DTX-1200 DTX-1800 DTX GFM GIG
Sadelco MiniMax 600 Signal Level CATV Meter Mini Max
Fluke 1735 Three Phase Power Logger
Tektronix TekScope THS720A 100MHz Oscilloscope THS720
Tempo CableScout TV90 Coax CATV TDR Cable Tester
TTC JDSU Acterna 2000 Test Pad T-BERD 2207 TBERD
