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仪表网>产品库>分析检测>热分析仪>热分析系统>Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA-热分析系统
  • Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA-热分析系统

Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA-热分析系统

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 所在地武汉市
  • 更新时间2018-10-18
  • 厂商性质生产厂家
  • 入驻年限1
  • 实名认证已认证
  • 产品数量13
  • 人气值1161
产品标签

光功率热分析仪

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武汉嘉仪通科技有限公司是*家以薄膜物性检测作为战略定位,技术*的中国高科技企业。公司集研发、市场和技术服务于一体,相继被评为湖北省“百人计划”及武汉市政府“城市合伙人”企业。公司成立于2009年,总部位于中国光谷,专注于薄膜材料物理性能分析与检测仪器的自主研发, 并致力于为客户提供薄膜材料的热、电、磁、力、光、声等性能测试分析整体解决方案。

嘉仪通科技始终坚持自主研发与技术创新,拥有工程师研发团队,公司总部建有 省 级工程实验室,并在国内外建立了办事处以及联合实验室共享中心,包括中国的北京、上海、成都以及海外的美国硅谷、英国伦敦和印度新德里等地。未来几年,化的营销体系及客户服务网络将全面建成。

目前,公司拥有自主研发和核心知识产权的产品体系,包括光功率热分析仪、相变温度分析仪、热电参数测试系统、薄膜热导率测试系统、霍尔效应测试系统、红外退火炉、液氮低温恒温器等序列产品,广泛应用于材料企业、大专院校、科研院所、航空航天、*以及第三方检测机构等材料领域。同时,公司依托省工程实验室及联合实验室等共享平台的大数据分析,为用户的薄膜材料研究及战略方向提供理论依据与数据支撑。

嘉仪通科技秉承技术创新、应用为上的价值理念,遵循“聚众之智,穷理致用”的原则,踏实做好每一款产品的创新研发,孜孜不倦的为广大客户提供Z合适的产品与较好的服务!

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产地进口 加工定制
Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA是世界*纳米级薄膜材料物性分析仪,*了对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白!不仅可用于检测块体,还可检测低至1nm的薄膜材料。根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性检测材料的相变温度,依据光干涉原理检测透光材料的热膨胀系数,融合了相变温度分析仪和热膨胀系数分析仪的两项功能。
Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA-热分析系统 产品详情

Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA 产品特点

  嘉仪通科技研发的OPA是世界*纳米级薄膜材料物性分析仪,*了对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白!

OPA不仅可用于检测块体,还可检测低至1nm的薄膜材料。

  OPA根据材料相变前后光学性质(反射光功率)有较大差异的特性检测材料的相变温度,依据光干涉原理检测透光材料的热膨胀系数,融合了

相变温度分析仪和热膨胀系数分析仪的两项功能。

  OPA可同时检测材料的相变温度和热膨胀系数两项热力学参数,且进行无损检测,保证样品不被破坏,节约成本。

 

Joule Yacht 光功率热分析仪 OPA 应用功能

各种材料相变温度(融化、软化、晶化等)的实时测定

新型材料(相变材料、相变储能材料)的稳定性测试及性能优化

强诱导体薄膜的结晶化退火

注入离子后的扩散退火

半导体材料的烧成与退火条件研究

玻璃基板的均热退火

热循环试验与热冲击试验

升温脱离试验与触媒试验

 

PCA、TEA、OPA 可应用于以下材料:

● NiAl复合薄膜

● 氧化钒薄膜

● PZT铁电材料

● MgO/Ni-Mn-Ga薄膜

● GST相变存储薄膜

● 金属Co薄膜

● Al2O3薄膜

● iN薄膜

● GeTe薄膜

● ZrO2薄膜

● 掺Ti的ZnSb薄膜

● SiC薄膜

● 显示屏玻璃

● 变记忆合金薄膜

样品满足以下要求

● 尺寸:长x宽 (5-20)x(5-20) ,单位mm

● 厚 度 2.0mm(含基底)以下为宜

● 变温度测试样品,具备光学反射平面

● 热膨胀系数测试样品,具备光学反射双平面

● 适用于透光材料的热膨胀系数检测

● 热膨胀检测样品的热膨胀量≥266nm

 

光功率热分析仪技术参数

型号

OPA-300

OPA-1200

OPA-1800

温度范围

RT~300℃

RT~1200℃

RT~1800℃

程序升温重复性偏差

<1.0%

程序升温速率偏差

<1.0%

相变温度测量精密度偏差

<3%

相变温度测量正确度偏差

<3%

热膨胀系数测量精密度偏差

<4.5%

热膨胀系数测量正确度偏差

<±15%

大工作功率

4.0kw

大升温速度

50℃/s(50℃~1200℃、真空氛围),45℃/s℃/(50℃~1200℃,N₂氛围)

温度*性

±2.0℃(1200℃,真空),±4.5℃(1200℃,N₂)

制冷要求

水冷

相变薄膜材料检测厚度下限

1.0×10-9m

热膨胀分辨率

266nm

主机尺寸

650 x 790 x 1350,单位mm

重量

92.3kg

 

光功率热分析仪样品要求

  ●尺寸:长×宽 5x5~20x20,单位mm,厚度2.0mm(含基底)以下为宜

  ●相变温度测试样品,具备光学反射平面

  ●热膨胀系数测试样品,具备光学反射双平面,适用于透光材料的热膨胀系数检测

  ●检测样品的热膨胀量≥266nm

  ●薄膜可选择适当基底,建议用20mmx20mmx1.5mm石英玻璃或硅片

 

光功率热分析仪应用实例

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