WA831瓷瓶探伤测试仪 武汉三高兴达电气设备有限公司
WA831瓷瓶探伤测试仪参数：
检测范围：0～9999mm
声速范围：1000～9999m/s
增益范围：0dB～110dB
显示延迟：-20µs～+3400µs
探头零偏：0µs～99.99µs
工作频率：0.5～15MHz
探头阻尼：100Ω、150Ω、200Ω、500Ω
电源电压：DC:7.2V; AC:220V
尺寸：220×175×59（mm）
重量：1.3 kg （含电池）
特点：
1、超探仪产品是全数字式超声波瓷瓶探伤仪，高速度、高精度、高效率、可靠性高、综合性能好、实时操作。采用*技术，现场性能。大容量电子硬盘，可*性保存。
2、大容量波形存储，可波形调用。
3、高速、长时间探伤过程录像。
4、全中文显示，菜单式操作，多个快捷键，数码飞梭旋钮。操作便捷，技术。
5、真彩色液晶显示屏，可根据环境选择仪器配色方案，屏幕亮度可自由设定。
发射脉冲：
1、脉冲幅度和宽度可调，使探头工作在佳状态。
2、阻抗匹配可选，满足灵敏度及分辨率的不同工作要求。
3、四种工作方式：直探头，斜探头，双晶，透射探伤。
放大接收：
实时采样：高速ADC，充分显示波形细节。
检波方式：全波、正半波、负半波、射频。
闸 门：双闸门读数，支持时间闸门与声程闸门。
增 益：0-110dB多级步距可调。可分别调节基本增益、扫查增益、表面补偿，方便探伤设置。支持增益锁定，支持自动增益。
报警类型：
闸门进波、闸门失波、曲线进波、曲线失波4种类型可选
数据存储：
设有存储快捷键，便于操作。可存储10个探伤通道；100个波形存储；10段5分钟录像。可快速另存、调用、回放与删除。
探伤功能：
波峰记忆：实时检索缺陷高波，记录缺陷大值
回波包络：对缺陷回波进行波峰轨迹描绘，辅助对缺陷定性判断。
B型扫描：实时扫查、横截面显示，可显示工件缺陷形状，使探测结果更直观。
DAC、AVG：直/斜探头锻件探伤找准缺陷高波自动计算Φ值，可分段制作。
动态记录：快捷检测实时动态记录波形，存储、回放。
缺陷定位：水平值L、深度值H、声程值S。
缺陷定量：根据设定基准灵活显示。
缺陷定性：通过包络波形，人工经验判断。
实时时钟记录：
日期、时间跟踪记录，并存储。
通讯接口：
高速USB接口提供传输。
屏幕保护：
待机时，仪器屏幕会降低亮度或自动关闭，可使仪器省电，延长使用寿命
