LANGER EMV-Technik XF1近场探头组 信号分析仪

LANGER EMV-Technik XF1近场探头组包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。由于在探头内部配置了阻抗匹配器，该探头组与其他探头（如RF型探头）相比，在低频区较不敏感。 使用XF 1系列的探头，可以逐步辨识电子模块中的干扰磁场源。例如，首先用XF-R 400-1型探头检测电子模块总体发射出的干扰场，然后再用高分辨率探头更准确地识别干扰源。电场探头用于检测电子模块表面的干扰电场。 通过相应地操作近场探头，能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻

LANGER EMV-Technik XF1近场探头组产品内容：

1xXF-B 3-1, 磁场探头（30MHz-6Hz）

1xXF-E 10, 电场探头（30MHz-6GHz）

1xXF-R 3-1, 磁场探头（30MHz-6GHz）

1xXF-R 400-1, 磁场探头（30MHz-6Hz）

1xXF-U 2.5-1, 磁场探头（30MHz-6GHz）

1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆

1xCase 5

LANGER EMV-Technik XF1近场探头组产品简介

XF-B 3-1磁场探头（30MHz-6Hz）

XF-B 3-1型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置到电路板上时，其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置，如开关调节器的大元件之间的位置。

XF-E 10电场探头（30MHz-6GHz）

XF-E 10型电场探头底面的电极仅有约0.2mm宽，用于定位小的电场，例如0.1mm宽的导线、高针数集成电路的单个引脚等发射的电场。测试时将该电场探头放置在受测物体上。

XF-R 3-1磁场探头（30MHz-6GHz）

XF-R 3-1型近场探头： 用于高分辨率直接检测组件上，譬如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器和电磁兼容性（EMC）元件等区域的射频磁场。

XF-R 400-1磁场探头（30MHz-6Hz）

XF-R 400-1磁场探头 因较大的直径（25mm）而拥有很高的灵敏度，允许在10cm以内的距离测量模块和设备。

XF-U 2.5-1磁场探头（30MHz-6GHz）

XF-U 2.5-1型磁场探头是一个近场探头，用于选择性测量导线、SMD组件和IC引脚中的高频电流。这个探头有一个大约0.5mm宽的磁场敏感缺口，测量时将这个缺口放在布线、IC或者电容器的连接点上。