温度冲击试验槽-冷热冲击试验箱

温度冲击试验槽有三个试验空间，分为高温区、低温区和测试区，也称待测品不动式温度冲击试验箱，试样放在测试箱内进行高低温冲击试验，模拟产品经过温度的急剧变化造成的物理变化。用于检测根据元器件、部件及设备疲劳损伤引起的失效。产品性能符合MIL、IEC、GB、JIS、JEDEC等各种和企业检测标准，是应力筛选试验和环境适应性验证的*手段。
性能参数参考如下：
1.低温冲击可选择温度范围：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（厂家还免费配高温至150度）
2.温度偏差：±2℃
3.温度波动度：±0.5℃。 
4.温度恢复时间：≤5min。 
5.温度恢复条件：高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。
6.温度冲击转移方式：采用气动驱动。   
7.高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。 
8.低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。
特点
高强度、高可靠性的结构设计,确保了设备的高可靠性；
工作室材料为SUS304不锈钢,抗腐蚀、冷热疲劳功能强，使用寿命长；
高密度聚氨酯发泡绝热材料,确保将热量散失减到*小；
表面喷塑处理,保证设备的持久防腐功能和外观寿命；
高强度耐温硅橡胶密封条,确保了设备大门的高密封性；
多种可选功能（测试孔、记录仪、净水系统等）保证了用户多种功能和测试的需要；
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明,可以提供良好的观察效果；
环保型制冷剂,确保设备更加符合您的环境保护要求；
温度冲击试验槽设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验