F20薄膜厚度测量仪
光学常熟，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到
测量厚度从1nm到10mm的*膜厚测量系统
F20薄膜厚度测量仪不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用：
• 测量厚度、折射率、反射率和穿透率：F20薄膜厚度测量仪
- 单层膜或多层膜叠加
- 单一膜层
- 液态膜或空气层
• 不同条件下的测量，包括：
- 在平面或弯曲表面
- 光斑小可达20微米
- 桌面式、XY坐标自动化膜厚测量，或在线配置
所有的这些功能都伴随着直观的软件界面以及我们即时的和互联网支持（24小时/每周5工作日）。这就是Filmetrics的优势！欢迎您试一试！
膜层范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。
这包括几乎所有的电介质与半导体材料，例如：
SiNX | TiO2 | DLC |
光刻胶SU-8 | 聚合物 | 有机电致发光器AIQ材料 |
非晶硅 | ITO | 硒化铜铟镓CIGS |
翌颖科技(上海)有限公司主要为半导体、新能源企业和高校及研发中心提供各类精密进口制程及测量设备。提供全面的一对一*，技术支持，备件管理和咨询服务。
