近日，法国Phasics为满足客户需求，推出基于砖利的四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪，波段范围900-1700nm，采样点数量高达5120（80*64），灵敏度2nm，动态范围100μm，采样频率120Hz
SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪
Phasics SID4-Swir波前传感器
基于Phasics 专li（专li号CN200780005898）的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度， 确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7µm，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
SID4-Swir 光学器件测量 自适应光学
特点：
由于其专有的zhuan利技术技术，Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：80x64测量点，经济实用，高性价比
2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差：0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
4.紧凑：易于集成
应用：
透镜测试：SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他军事和监视设备。无色差，SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
激光束测试：SID4 SWIR也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
SID4-Swir产品参数：
波长范围 | 0.9-1.7μm |
通光孔径 | 9.6 x 7.68 mm2 |
空间分辨率 | 120 µm |
采样点（相位/强度） | 80 x 64 (> 5 000 points) |
相位相对灵敏度 | <2nm RMS |
相位精度 | 15nm RMS |
动态范围 | 100μm |
采样频率 | 120 fps |
实时分析频率 | 7 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 100x 55 x 63 mm |
重量 | 455g |
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