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  • XRF荧光光谱仪元素标准膜 各种耗材

XRF XRF荧光光谱仪元素标准膜 各种耗材

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号XRF
  • 品牌
  • 所在地北京市
  • 更新时间2022-09-29
  • 厂商性质经销商
  • 入驻年限6
  • 实名认证已认证
  • 产品数量263
  • 人气值2016
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HEMERA作为欧洲仪表业,尤其是技术创新领域的*, 是集研发,生产,销售,安装调试及服务为一体的专业厂家。我们具有18年的丰富经验的工程师团队,涵盖光学,化学,机械学,电子学等领域。 HEMERA团队会针对客户的不同应用与需求,为您提供解决方案。 

点击展示更多内容
产地国产 加工定制 适用领域大专院校
奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备;具有膜层厚度控制精确,厚度均匀,性能稳定等优点,元素纯度可达99.9%以上;同时综合ICP和XRF等检测技术,可精确标定薄膜标样的负载量。
《HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立
XRF荧光光谱仪元素标准膜 各种耗材 产品详情

XRF薄膜标准样品分SL(0.5-2μg/cm2)VL(3-5μg/cm2)L(15-25μg/cm2)R(40-60μg/cm2)H(80-120μg/cm2)五个负载量系列,其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。

可供应的XRF薄膜标准样品的元素如下(可在表格内打√选择样品):

元素

SL

VL

L

R

H

元素

SL

VL

L

R

H

Na (NaCl)

 

 

 

 

 

Co

 

 

 

 

 

Mg (MgF2)

 

 

 

 

 

Ni

 

 

 

 

 

Al

 

 

 

 

 

Cu

 

 

 

 

 

Si (SiO2)

 

 

 

 

 

Zn (ZnTe)

 

 

 

 

 

P (GaP)

 

 

 

 

 

As (GaAs)

 

 

 

 

 

S (CuSx)

 

 

 

 

 

Se

 

 

 

 

 

Cl (NaCl)

 

 

 

 

 

Sr (SrF2)

 

 

 

 

 

K (KCl)

 

 

 

 

 

Br (CsBr)

 

 

 

 

 

Ca (CaF2)

 

 

 

 

 

Cd (CdSe)

 

 

 

 

 

Sc (ScF3)

 

 

 

 

 

Ba (BaF2)

 

 

 

 

 

Ti

 

 

 

 

 

Pb

 

 

 

 

 

V

 

 

 

 

 

Sn

 

 

 

 

 

Cr

 

 

 

 

 

Sb

 

 

 

 

 

Mn

 

 

 

 

 

In

 

 

 

 

 

Fe

 

 

 

 

 

Mo

 

 

 

 

 

Ag

 

 

 

 

 

Hg (HgTe)

 

 

 

 

 

可提供超纯铝杯用于XRF测定大气颗粒物的辅助设备,用以消除或减小合金材料样品杯对样品结果的影响;采用*标准样品研究所提供的湖南重金属污染标准土壤样品,参考NIST 2783标样制备方式研制成功混合元素薄膜样品,可用于XRF分析方法的验证以及XRF实验室日常质控工作。

XRF薄膜标准样品的安装形式:

  1. 安装环尺寸(厚度为1.5mm的亚克力玻璃)
  2.  

代码

外径(mm)

内径(mm)

25

25

17

32

32

25

36

36

29

47

47

39

       *36号尺寸。

方形:

       50x50mm方形尺寸,内置ø32mm的圆环,代码50

  1. 支撑膜材料

代码

支撑膜材料

备注

N

Nuclepore® polycarbonate

气溶胶多孔膜

M6.3

6.3μm厚度麦拉膜(Mylar)

 

M3.5

3.5μm厚度麦拉膜(Mylar)

 

  • M6.3型材料。

 

  1.  

B

A

镀膜方式:

 

代码

镀膜位置排列

A

安装环-元素膜-支撑膜

B

元素膜-支撑膜-安装环

具体型号请咨询厂家

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