X-Strata920 微英寸级别进口测厚仪X-Strata920

一、微英寸级别进口测厚仪X-Strata920测试原理：

  对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

二、微英寸级别进口测厚仪X-Strata920X射线系统：

  垂直下照式X射线光学系统，50W(50kV，1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管，高计数率，改善分析精度，到达更小的激发X射线束斑。

三、微英寸级别进口测厚仪X-Strata920准直器：

  单准直器组件；多准直器自动控制组件：多可同时装配6种规格的准直器；圆形、矩形多种规格尺寸任选（红色常用）：

四、微英寸级别进口测厚仪X-Strata920*安全系统：

  1、自动锁定功能防止未*的操作；

  2、系统自动生成操作员的使用记录；

  3、z轴保护传感器（意思是防止碰撞，立刻停止）；

  4、样品室门开闭传感器（意思是开门机器就会暂停）；

  5、紧急停止按钮；

  6、前面板安全钮和后面板安全锁。

五、微英寸级别进口测厚仪X-Strata920的配置：

  1、X－Strata920测试主机；

  2、戴尔工作站台式计算机Windows10专业版、SmartLink FP分析软件包；

  3、19寸液晶显示器；

  4、彩色喷墨打印机；

  5、标准片组件（满足镀层需要）。

六、微英寸级别进口测厚仪X-Strata920采购须知：

  深圳市谱赛斯科技有限公司； 

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  深圳市宝安区松岗街道红星社区佳裕大厦17楼1707室 

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