X荧光测厚仪

产品介绍：X荧光测厚仪

荧光X射线测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLinkFP应用软件包，实现了对cmi900/950主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求。

仪器规格：X荧光测厚仪

1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
X射线管功率可编程控制
装备有安全防射线光闸

2滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口

3准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时，大测量斑点尺寸为：0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)

5X射线探测系统封气正比计数器
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路

6样品室CMI900CMI950
－样品室结构开槽式样品室开闭式样品室
－大样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm
－XY轴程控移动范围标准：152.4x177.8mm
任选：50.8mmx152.4mm
50.4mmx177.8mm
101.6x177.8mm
177.8x177.8mm
610mmx610mm300mmx300mm
－Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时，152.4mm
XY轴手动时，269.2mm