大型多站全自动比表面及孔隙度分析仪 比表面测量仪

产品简介大型多站全自动比表面及孔隙度分析仪

的ASAP 2420-4系统是专为高效能、高样品通量的用户而设计。配有4个独立的分析站，一个样品分析结束后立即开始新的样品分析，无需同时准备或者分析所有的样品。 ASAP 2420-4标配的全自动程序化样品制备模块，带有8个独立的脱气站。

技术特点大型多站全自动比表面及孔隙度分析仪

• BET比表面积分析，4个样品平行运行， 30分钟内即可完成分析

• 大容量杜瓦瓶允许长时间分析，是获得高分辨率的吸附/脱附等温线的必要条件

• 可选择氪气作为吸附介质来进行总比表面积和微孔的测试低压进气和平衡模式，微孔选件允许独立的4个分析站同时进行微孔分析

• 可升级为6分析站、12制备站的型号

• 可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务，确保该系统的准确性，可靠性和*性。这些服务保障了分析记录的完整性

• 仪器配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹，以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定

• 仪器配备有两套真空系统,既脱气系统和分析系统相互独立，各自有一套独立的双级机械泵(可加装高真空系统),提高了测试效率，真正做到分析与脱气的同时进行。避免了由一套真空系统而带来的污染问题

• 配备了大容量杜瓦瓶，结合的液氮等温夹，保证至少60小时无人介入操作。大无上限的连续分析

• 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法:

单点和多点BET比表面积, Langmuir比表面积

Temkin and Freundlich等温线分析

多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布

孔体积和用户孔径范围内的总孔体积

MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积

f-Ratio plots，D-R，D-A

H-K法(包括Cheng&Yang校正，Saito & Foley校正)

DFT密度函数理论，包括NLDFT等

• 仪器配置了*的样品管密封单向阀，避免了样品管在从脱气站到分析站转移过程中的二次污染

• 真正的全自动仪器，仪器面板无任何手动按键，所有的操作程序均由计算机来控制

• 仪器选配高真空单元后可进行低比表面测试和氩气的微孔分析功能

产品应用

适用于各种材料的研究与产品测试，包括测量沸石、碳材料、分子筛、二氧化硅、氧化铝、土壤、黏土、有机金属化合物骨架结构等各种材料。