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耐驰激光法导热仪 LFA 457 MicroFlash®
代表了当代激光闪射测量技术的进展。仪器为桌上型，温度范围 -125 ... 1100°C。为了覆盖这一温度范围，提供了两种可自由切换的炉体。
NETZSCH LFA 457 MicroFlash® 代表了当代激光闪射测量技术的进展。仪器为桌上型，温度范围 -125 ... 1100°C。为了覆盖这一温度范围，提供了两种可自由切换的炉体。耐驰激光法导热仪 LFA 457 MicroFlash® 系统所使用的全新的红外传感器技术使得用户甚至可以在 -125°C 的低温下测量样品背部的温升曲线。 仪器既可使用内置的自动样品切换器在一次升温中对多个较小的样品进行测量，也可单独测量较大的样品（大直径 25.4mm）。 真空密闭系统使得仪器可以在多种用户可选的气氛中进行测量。 样品支架、炉体与检测器的垂直式排布方便了样品的放置与更换，同时使得检测信号拥有的信噪比。 LFA 457 是大与灵活的 LFA 系统，适用于包括汽车制造、航空航天与能源技术在内的各种领域的常规材料与新型高性能材料的表征。耐驰激光法导热仪 LFA 457 MicroFlash® |  |
LFA 457 MicroFlash® - 技术参数
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LFA 457 MicroFlash® 结构示意图（1100°C炉体） |
LFA 457 MicroFlash® - 软件功能
LFA 457 MicroFlash® 的测量与分析软件是基于 MicroSoft Windows® 系统的 Proteus® 软件包，它包含了所有必要的测量功能和数据分析功能。这一软件包具有极其友善的用户界面，包括易于理解的菜单操作和自动操作流程，并且适用于各种复杂的分析。Proteus 软件既可安装在仪器的控制电脑上联机工作，也可安装在其他电脑上脱机使用。
LFA 部分软件功能：
- 精确的脉冲宽度修正与脉冲能量积分。
- 热损耗修正。
- 集成了所有传统模型。
- 使用非线性回归进行 Cowan 拟合。
- 改进的 Cape-Lehmann 模型，使用非线性回归，将多维热损耗纳入计算。
- 对于半透明样品的辐射修正。
- 二层与三层结构样品：通过非线性回归方式进行拟合，并将热损耗纳入计算。
- 计算多层样品的接触热阻。
- 比热测量：使用已知比热的标样、通过比较法进行计算。
- 内置数据库。
NETZSCH LFA Proteus® 的分析界面
