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仪表网>产品库>实验仪器>试验箱>冷热冲击试验箱>西安照明灯高低温冷热冲击测试箱-冷热冲击试验箱
  • 西安照明灯高低温冷热冲击测试箱-冷热冲击试验箱
  • 西安照明灯高低温冷热冲击测试箱-冷热冲击试验箱

TSL 西安照明灯高低温冷热冲击测试箱-冷热冲击试验箱

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号TSL
  • 品牌宏展科技
  • 所在地西安市
  • 更新时间2021-04-06
  • 厂商性质生产厂家
  • 入驻年限6
  • 实名认证已认证
  • 产品数量449
  • 人气值30041
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广东宏展科技有限公司,以“环境模拟”为经营课题,专注于高低温试验箱、高低温湿热试验箱、快速温度循环试验箱、冷热冲击试验箱、高温老化箱、工业烤箱、精密烘箱、热流仪的制造、研发,销售。

 

 

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产地国产 加工定制 适用领域其他
西安照明灯高低温冷热冲击测试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
西安照明灯高低温冷热冲击测试箱-冷热冲击试验箱 产品详情

一、西安照明灯高低温冷热冲击测试箱性能指标

1、温度范围: A:-40℃~200℃ B:-55℃~200℃ C:-65℃~200℃
2、温度波动: 高温室及低温室均≤±2℃
3、温度波动: ≤±0.5℃(恒温时)
4、样品承重: 20KG; 30KG; 50KG; 60KG
5、低温区、高温区转换时间小于等于15秒。
6、温度恢复时间小于等于5分钟。

二、西安照明灯高低温冷热冲击测试箱技术参数

1、冲击温度范围:-20℃~+150℃ ,-40℃~+150℃ ,-55℃~+150℃ ,-65℃~+150℃

2、高温槽温度上限:+170℃

3、低温槽温度下限:-70℃

4、温度偏差:±2℃

5、温度波动度:±0.5℃

6、温度恢复时间:5min

7、温度恢复条件:高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min,高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min.

8、试品转移方式:采用气动

9、试品重量:≤3kg

10、高温室升温时间:30min (+25℃~+170℃)

11、低温室降温时间:65min (+25℃~-55℃)

12、噪音:(dB)≤65

13、使用电源:3¢AC380V±10%,50/60Hz

14、总功率:13.5kw

三、运行控制系统

1、控制器: 采用进口LED数显(P、I、D S、S、R.)微电脑集成控制器
2、精度范围: 设定精度:温度±0.1℃,指示精度:温度±0.1℃,解析度:±0.1℃
3、制冷系统: 进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组,原装法国“泰康”全封闭风冷复迭压缩制冷方式
4、循环系统: 耐温低噪音空调型电机,多叶式离心风轮
5、温度转换时间: 从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S
6、温度恢复时间: ≤5min(与温度恢复条件有关,即冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关)温度冲击方法: 垂直两箱法/垂直三箱法 (两箱式冷热冲击试验箱/三箱式冷热冲击试验箱)
四、
工作原理

1、低温储存箱:箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器以及风机的工作状态决定。经过膨胀阀节流流出的制冷剂进入工作室内蒸发器后,吸收工作室内热量并气化,使工作室温度降低;气化后的工质被压缩机吸入并压缩成高温、高压气体进入冷凝器中被冷凝成液体,再经筛检程式,zui后通过膨胀阀节流后,重新又进入工作室内蒸发器中吸热并气化然后再被压缩机吸入压缩。如此往复回圈工作,使工作室温度降到设置的温度要求

2、高温储存箱:*控制器从感温元件检测即时信号,与设定温度信号进行比较,得到比较信号,由仪表PID逻辑电路输出信号控制固态继电器的导通或关断的时间比例调节加热器输出功率大小,从而达到自动控温的目的。

3、冲击温度测试箱:由仪表自动控制高低温气阀,在低温或高温储存室之间切换,分别与高温箱或低温箱形成闭路空气循环系统,迅速达到试验的目标温度。试验箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器、及风机的工作状态决定。试验箱工作室内采用强制轴流“散性”式回圈风工作,可以大大提高设备运行的波动度、均匀度等参数。

五、用途

    温度循环冲击测试箱又名冷热冲击试验箱、高低温冲击测试箱、温度冲击试验箱主要用于测试零部件、材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

   温度循环冲击测试箱适用于质量控制的实验室,确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性,又可满足生产过程中筛选商用和军用产品。适用的对象包括金属,塑料,橡胶,电子、LED、LCD、通讯组件、汽车配件、化学材料、航天、国防工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料等行业,可作为其产品改进的依据或参考。

 

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