FTBX-5255支持带内光信噪比100G光谱分析（OSA）

关键字 ：

OTN 100G测试仪（带内OSNR）；OTN 100G波道光谱分析仪； OSNR；密集波分复用系统；光谱分析仪；光谱分析仪（带内OSNR）；100G光谱分析仪采购

背景：

关于100G系统部署后的维护问题，从传统上讲，DWDM系统的维护主要依靠OSNR这一指标，主要的维护工具是光谱分析仪。实际上从40G甚至是带有OADM系统的10G系统开始，就存在所谓的带内OSNR的测量问题，即不采用带内功能的光谱仪的测试就没有办法知道在用系统的实际光信噪比，这是目前波分维护遇到的主要难题。

对于运营商的波分维护，光谱仪特别是带内光谱仪依然是一个重要的手段。光谱分析仪现已成为测量40Gbit/s、100Gbit/s及更高速率密集波分复用系统光信噪比(OSNR)的重要仪器.

应用场景：

WDM/OTN/5G前传网络开通WDM/OTN/5G前传网络维护和监测，生产制造、实验室、研发，开通或维护一条WDM线路；

主要功能

应用：WDM/OTN工程、维护；生产、实验室、研发

分辨率带宽0.035nm，精度更高

高级功能：WDM、EDFA、漂移、光谱透射率、法布里-珀

罗和DFB激光器测试

支持在线测量100/200/400G信号的POL-MUX OSNR

业内支持所有应用的光谱分析仪

提供多种测量结果（SMSR、FWHM谱宽、20 dB线宽）

 主要特性 (OSA 系列)

•波长范围：1250 to 1650 nm

•具备在ROADM 和40G 网络中测试真实带内信噪比的能力

•超高分辨率

•整个仪表生命周期内，确保具备业界的波长精度

•具备40G/100G 数据速率分析能力，以及下一代调制方式

•用于信号通道隔离和可调滤波器应用的通道取出功能

•基于固定分析法的PMD 测试软件选项

光谱测量     

OTN测试仪波长范围(nm)   1250至1650 

分辩率带宽FWHM(nm)   0.065 0.033

波长不确定性(nm)   ±0.05 ±0.03

波长测量重复性(nm)   ±0.003 ±0.003

波长线性(nm) 典型 ±0.01 ±0.01

幅度测量     

动态范围(dBm)   18至-75

功率不确定性(dB)   ±0.4 

光抑制比(dBc)     

12.5GHz(±0.1nm) 典型   40z小   35

25GHz(±0.2nm) 典型 40 50z小 35 48

50GHz(±0.4nm) 典型 50 55z小 45 50

PDL/1550nm(dB) 典型 ±0.07 ±0.07z小 ±0.15 ±0.15

扫描时间(s)   ＜1.5(35nm径距、全分辩率、多波峰分析)

光回损(dB)   ＞35 ＞35

FTBX-5255z新光谱分析仪,是当前和下一代 DWDM系统的工程验收和维护、CWDM网络的安装与维护、支持40G和 100GOTN网络。 具有*的通道分出功能以及便捷实用方法。主要用于 100G DWDM/OTN 网络工程验收，运行维护和巡检测试。具备对 WDM、EDFA、合波器和分波器等器件的测试能力。 能够支持 100G 相干信号 OSNR 在线测试。