SLB—302B 变压器绕组变形测试仪
传统的测量技术相比，仪器电源部分与测量部分采用一体化设计，操作简单、接线方便、数据准确可靠，可直接显示您需要的所有测量数据，无需再进行手工换算，使您在变压器绕组变形测量中节约时间，提高工作效率，减轻劳动强度。
SLB—302B 变压器绕组变形测试仪
产品简介：
传统的测量技术相比，仪器电源部分与测量部分采用一体化设计，操作简单、接线方便、数据准确可靠，可直接显示您需要的所有测量数据，无需再进行手工换算，使您在变压器绕组变形测量中节约时间，提高工作效率，减轻劳动强度。变压器绕组变形试验通过对检测变压器各个绕组的负载阻抗及空载损耗特性，对检测结果进行纵向和横向比较，根据阻抗及损耗特性的变化程度判断变压器可能发生的绕组变形。
技术指标：
◆ 频点范围：1K－1M 分辨率1KHZ
1K－10K 低频段0.01KHZ
10－10K 中频段 0.01KHZ
100－1M 高频段 0.01KHZ
◆ 幅度测量范围：+20DB-100dB
◆ 分段式扫频，全量程自动扫频相结合，+20DB－-100DB，测量精度为±1dB
◆ 先预置扫频电压可软件设置当超电质量程，后启动调整扫频电压
◆ 扫频电压：峰峰20V 小可调置120mv
频率精度：0.01HZ
◆ 幅度分辨率：0.01dB
◆ 采集通道输入阻抗：1MΩ 量化精度：12位
◆ 采集通道大静态误差：0.5%
◆ 通道大存储容量：64k样点
◆ 每通道zui高采样率 ：20Msps
◆ 扫频测量范围：1k~1MHz
技术参数：
测量速度：单相绕组1分钟-2分钟
输出电压：Vpp-25V，测试中自动调整
输出阻抗：50Ω
输入阻抗：1MΩ （响应通道内置50Ω匹配电阻）
扫频范围：10Hz－2MHz
频率精度： 0.001%
扫频方式：线性或对数，扫频间隔和点数可任意设置
曲线显示：幅频曲线
测量动态范围宽：－120dB～20dB
检测原理：
在较高频率的电压作用下，变压器的每个绕组均可视为一个由线性电阻、电感（互感）、电容等分布参数构成的无源线性双口网络，其内部特性可通过传递函数H(jω)描述。若绕组发生变形，绕组内部的分布电感、电容等参数必然改变，导致其等效网络传递函数H(jω)的零点和极点发生变化，使网络的频率响应特性发生变化。
采频率扫描方式获得。连续改变外施正弦波激励源VS的频率f(角频率ω=2πf)，测量在不同频率下的响应端电压V2和激励端电压V1的信号幅值之比，获得激励端和响应端情况下绕组的幅频响应曲线。L、K及C分别代表绕组单位长度的分布电感、分布电容及对地分布电容，V1、V2分别为等效网络的激励端电压和响应端电压，VS为正弦波激励信号源电压，RS为信号源输出阻抗，R为匹配电阻。
SLB—302B 变压器绕组变形测试仪
