38DL PLUS超声波测厚仪
——可连接EMAT探头的测厚仪
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38DL PLUS测厚仪的简介
日本奥林巴斯制造的38DL PLUS进口超声波测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。38DL Plus超声波测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL plus测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。
38DL PLUS测厚仪的主要特性
- 可与双晶和单晶探头兼容。
- 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
- 使用双晶探头进行腐蚀测厚。
- 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
- 内部氧化层/沉积物软件选项。
- 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
- 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
- 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
- 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
- 厚度、声速和渡越时间测量。
- 差分模式和缩减率模式。
- 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。
- 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
- 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
- 设计符合EN15317标准。
38DL PLUS测厚仪与其他测厚仪有何不同？
38DL Plus测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求，而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS测厚仪都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器，那么，符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS超声波测厚仪正是您要寻找的仪器。
38DL PLUS进口超声波测厚仪具备的*性能
1、抵御恶劣环境的能力
- 袖珍型，仅重0.814公斤。
- 坚固耐用，设计符合IP67标准。
- 爆炸性气氛：通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试，可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组中定义的爆炸性气氛环境中安全操作。
- 防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
- 防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
- 宽泛的工作温度范围。
- 带有支架的橡胶保护套。
- 彩色透反VGA显示，带有室内和户外颜色设置，具有的清晰度。
2、简便操作的设计理念
- 可用右手或左手单手操作的简洁的键区。
- 可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。
- 内置和外置MicroSD存储卡。
- USB和RS-232通讯端口。
- 可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。
- 可连接计算机或显示器的VGA输出。
- 默认或自定义双晶探头设置。
- 默认或自定义单晶探头设置。
- 密码保护功能可以锁住仪器的功能。
3、对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量
38DL PLUS测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中使用的是双晶探头。
- 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能。
- 10个自定义双晶探头设置。
- 校准过程中用于双晶探头的优化默认增益。
- 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
- 校准过程中出现回波加倍时使用的校准加倍功能。
- 用于测量带有漆层和涂层表面的材料的穿透涂层和回波到回波测量功能。
- 高温测量：温度可高达500°C。
- 锅炉管件和内部氧化层测量（可选项），使用M2017或M2091单晶探头。
- EMAT探头（E110-SB），用于对外部附有氧化层/沉积物的锅炉管件进行不使用耦合剂的厚度测量。
4、穿透涂层技术
使用单个底面回波测量金属的实际厚度。使用这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度。这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，要测量金属的厚度，不再需要减去表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SM、D7906-RM和D7908双晶探头。
5、对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量
用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供各种频率、直径和接口类型的单晶探头。用户使用高分辨率软件选项可以进行分辨率为0.001毫米的极其精确的厚度测量。
- 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
- 在使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头的情况下，高分辨率软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。
- 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
- 多层软件选项可对多达4个不同层的厚度同时进行测量。
- 测量厚度、声速或渡越时间。
带有默认和自定义设置的自动调用应用简化了厚度测量。
