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测角仪侧倾法结构：
其主要特点：
1.2θ平面与ψ平面相垂直；
2.使入射线与线阵探测器的垂直平分线关于ψ平面对称分布；
3.对于不同的材料、靶材和衍射角，需要改变2θ范围时，采用步进电机、钢带传动，同步地、对称地改变X射线管和探测器的位置，维持正确的侧倾法衍射几何布置。
探测器：
瑞士DECTRIS公司的微带X射线探测器（Microstrip X-ray Detectors）。该探测器的接收部分由640硅微带组成，每条硅微带的宽度为50μm，能够灵敏地接收达到一定能量阈值的单个X光子，实现所谓的无噪声单光子计数，并且具有抗辐射、免维护和无限寿命的特点。
技术参数：
测量方法，其特点如下：
正确的侧倾法（或称为χ法、ψ测角仪，基本免除吸收因子影响）。
允许设置多个正负ψ角和φ角进行测试测试（解决织构材料应力测试、三维应力测试问题）。
摆动法（解决粗晶材料的应力测试问题）。
残余奥氏体含量测定。
被测材料：适合于铁素体型、奥氏体型钢、铝、钛、镍，和金、银、铂等贵金属，以及氧化锆等陶瓷材料。
X射线管：Cr、Cu、Mn靶材。
高压电源：大功率30kV×10mA。
探测器：硅微带线阵探测器（无噪声单光子计数，抗辐射、免维护和无限寿命）。640通道。覆盖范围24°。
2θ范围：117°～170°，2θ分辨率0.0375°。
ψ角范围：±60°。
准直管：内径为?0.5mm、?1mm、?1.5mm、?2mm、?3mm计5个规格，可以更换。
测试点定位：采用激光定位器。
X射线管冷却系统：封闭恒温循环水箱。
辐射：在仪器工作状态，防护罩之外辐射剂量等同于大气本底，无防护的条件下，2米之外的辐射剂量等同于大气本底。
电源：2000W，220V，50Hz。
