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  • MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪-涂层检测仪

MiniTest1100/2100/3100/4100 MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪-涂层检测仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号MiniTest1100/2100/31
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2020-08-27
  • 厂商性质其他
  • 所在地区北京市
  • 实名认证已认证
  • 产品数量495
  • 人气值1743
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MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪均可配所有探头,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机,可使用一片或二片标准箔校准。F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层FN两用探头:同时具备F型和N型探头的功能.
MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪-涂层检测仪 产品详情

MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀覆层测厚仪
MiniTest1100/21/31/4100 涂层测厚仪包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,所有型号均可配所有探头,可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机,可使用一片或二片标准箔校准。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N型探头的功能
所有探头都可配合任一主机使用
在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素
MiniTest1100/2100/3100/4100 涂层测厚仪数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准

技术指标
型号
1100
2100
3100
4100
MINITEST存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
1
1
10
99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)
1
10
99
可用各自的日期和时间标识特性的组数
1
500
500
数据总量
1
10000
10000
10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
存储显示每一个应用行下的所有组内数据
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
显示并打印测量值、打印的日期和时间
其他功能
设置极限值
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别大小值
连续测量模式中测量稳定后显示读数
连续测量模式中显示小值
探头
量程
低端
分辨率
误差
小曲率半径
(凸/凹)
小测量
区域直径
小基
体厚度
探头尺寸



F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm/N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm



N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
50μm
φ15x62mm
N2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
无限制
φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

测头 F05 (铁基体涂镀层 小测量面积直经3mm 0-500um,低端分辨率0.1um)
测头 F3 (铁基体涂镀层 0-3000um,低端分辨率0.2um)
测头 F1.6 (铁基体涂镀层 0-1600um,低端分辨率0.1um)
测头 F1.6P (铁基体上未固化粉末涂层 0-1600um,低端分辨率0.1um)
测头 F1.6/90 (铁基体涂镀层 测管内壁 0-1600um,低端分辨率0.1um)
测头 F10/2,F20 (铁基体涂镀层 0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um)
测头 F50 (铁基体涂镀层 0-50mm,分辨率,10um)
测头 FN1.6 (铁及铜铝基体涂镀层 0-1600um,分辨率0.1um)
测头 FN1.6P (铁及铜铝基体上未固化粉末涂层 0-1600um,分辨率0.1um)
测头 N02 (铜铝基体涂层 0-200um,分辨率,0.1um)
测头 N08 Cr (铜基体上镀铬层 0-800um,分辨率0.1um)
测头 N02 Tu (铝箔或铝薄壁管上薄涂层 0-200um,分辨率0.1um)
用于测头N02 Tu的支架  
测头 N1.6 (铜铝基体涂层 0-1600um,分辨率0.1um)
测头 N1.6/90 (铜铝基体涂层 测管内壁 0-1600um,分辨率0.1um)
测头 N10/2,N20 (铜铝基体涂镀层 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um)
测头 N100 (铁及铜铝基体涂镀层 0-100mm,分辨率100um)
测头 CN 02 (敷铜板等 10-200um,分辨率0.2um)
RS232 接口电缆 for 2100/4100 MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑)
MSOFT41 数据分析软件 for 4100 MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑)
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