高频Q表相对介电常数测试仪

机台型号：ZJD-B/ZJD-A/ZJD-C 产品名称：高频Q表相对介电常数测试仪

一、符合标准：

ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；

GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法；

GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；

GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；

二、主机及夹具参数：

三、配置：

相关仪器：

ZJD-C型高频Q表相对介电常数测试仪

QS37介电常数介质损耗测试仪 

ZJD-C型介电常数测试仪器装置

一、概述：

      ZJD-C型介电常数测试仪器装置作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.ZJD-C介电常数仪采用了多项技术。
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

二、主要技术特性：

S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：
数显式微杆，平板电容器：
极片尺寸： 38mm
极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm
测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm 
*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm
电感组LKI-1：
分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

三、配置：