TDM-10 小型X射线衍射仪
TDM-10型X射线小型衍射仪，主要用于对粉末、固体和类似糊状材料进行物相分析，该设备体积小，重量轻，耗电少，能快速对样品进行校准和测试，衍射峰位置的测量精度0.001°，用于计算机控制、在Windows窗口下可直接看到数据的采集和及时处理。
X射线衍射仪用途和原理
TD系列X射线衍射仪主要用于粉末、固体、类似糊状材料或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析、晶体的取向性分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等。依据德拜-谢乐几何原理，可获得高精度测试结果，广泛应用于从事地质、海洋、生物、化学、核反应站的实验室，同时也应用于工业控制实验室和高等院校的教育实验室等。
粉末衍射法的基本原理是
一束单色的X射线入射到取向*任意的、数目很大的小晶体上，小晶体的尺寸大约为1~10µm。为减少择优取向，通常多晶样品是转动的。假设晶体中有一点阵平面（hkl）满足布拉格反射条件，入射线与（hkl）点阵平面构成θ角，其反射线与入射线的夹角则为2θ.由于小晶体的取向是任意的，每一组（hkl）平面的衍射线都形成相应以入射线为轴，顶角为4θ的圆锥面。凡是晶面间距大于λ/2（即sinθ<1的情况）、满足布拉格反射条件的点阵平面组都可以获得相应的衍射线锥面。所有的粉末X射线衍射的实验方法都包括有X射线源和用于正确地记录满足布拉格定律的晶体衍射线的实验装置。
粉末衍射法的基本原理是
一束单色的X射线入射到取向*任意的、数目很大的小晶体上，小晶体的尺寸大约为1~10µm。为减少择优取向，通常多晶样品是转动的。假设晶体中有一点阵平面（hkl）满足布拉格反射条件，入射线与（hkl）点阵平面构成θ角，其反射线与入射线的夹角则为2θ.由于小晶体的取向是任意的，每一组（hkl）平面的衍射线都形成相应以入射线为轴，顶角为4θ的圆锥面。凡是晶面间距大于λ/2（即sinθ<1的情况）、满足布拉格反射条件的点阵平面组都可以获得相应的衍射线锥面。所有的粉末X射线衍射的实验方法都包括有X射线源和用于正确地记录满足布拉格定律的晶体衍射线的实验装置。
