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仪表网>产品库>测量/计量>其它测量>其他测量>小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统
  • 小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统

小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统 小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号小型台式XR
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2020-08-31
  • 厂商性质代理商
  • 入驻年限1
  • 实名认证已认证
  • 产品数量98
  • 人气值621
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小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统 产品详情

X射线衍射技术/发展史

X射线衍射技术/集成技术

BTX PROFILER的XRD技术来自于美国宇航局NASA埃姆斯实验室,该技术曾被美国宇航局火星计划"好奇号"、"漫游者"使用过;XRF技术则是奥林巴斯ED-XRF技术的结晶,两大技术结合,可以提供材料的元素、成分、结构等全方面的信息,可减少实验成本,节约时间和空间。BTX PROFILER 采用两套独立的X射线源和探测器,以保证快速获取全面优质的数据信息,XRD部分使用CCD二维面探测

器,该探测器可以获取整个德拜环的衍射数据信息,XRF部分则采用SDD探测器,实现更低的检测下限和更高的灵敏度。

技术规格

XRD和XRF组合技术

①XRD微聚焦X射线管  

②XRD X射线束  

③XRD准直器  ④XRD样品  

⑤CCD探测器  ⑥XRF X射线管  

⑦滤光轮  ⑧XRF X射线束

⑨XRF样品 ⑩ XRF SDD探测器



用于化合物分析的二维XRD

XRD采用透射衍射几何技术,使用能量敏、

位敏的二维CCD面探测器,实现了仪器的小

型化和更为紧凑的结构

1、探测器收集整个德拜环的信息而非传统

台式机只能收集德拜环一个截面的信息,增大

了数据

2、检测快速,全谱显示而非步进扫描,普通样

品 分钟即可



无测角仪的XRD

使用样品振动系统(样品在检测过程中以6000hz的频率随机振动),替代传统台式XRD测角仪可以实现以下功能:

1、样品制备简单:样品无需制片、压片、刮片,只需得到<150um的颗粒即可;2、实现样品颗粒的角度的检测;3、*消除检测过程中晶体的择优取向;4、增加了样品检测量


用于全元素分析的能量色散型(ED)XRF

1、大功率射线管,配以超大面积SDD探测器;2、真正实现了在现场进行快速,准确的检测;3、直接显示元素的ppm含量与百分比含量;4、全元素分析,从镁(Mg)到铀(U)之间的所有元素; 5、7个滤光片设置,可根据元素自动选择优滤光片;6、可选配氦气装置进一步提高轻质元素的检测效果;






XRD-XRF联用仪/软件

XRD

XRD使用xpowder分析软件,该软件可提供包括背景扣除、平滑处理、Ka2峰剥离、多谱图叠加等功能,可以进行物相定性定量分析晶体结构分析、结构精修处理、结晶度分析、晶粒度分析等功能。

物相定量分析可以使用RIR值及里特维德全谱拟合,实现复杂混合物的准确定量,尤其适合于矿物的全岩成分分析。

XRF

XRF数据处理软件提供有关材料的定性、定量信息,其中包含光谱视图和元素峰值辨别。定量分析使用基本参数(FP)法。在实际应用中,可以使用一系列用户的认证标准对这些基本参数校准进行优化(经验分析)。使用离线“方法建立器”软件包可以优化校准曲线, 自行定制分析程序,并将分析程序下载到分析仪器。

软件还提供了其它一些用于分析的性能,如:查看元素范围、

可选峰值识别、显示含量结果,以及样件组的频谱覆盖。

XRD-XRF联用仪/应用领域

BTX PROFILER集成二维XRD技术及ED-XRF技术,可对材料实现全面的分析检测,提供材料的元素组成、化学成分、晶体结构等方面的信息。广泛应用于地质矿产、石油地质录井、地球化学、制药、催化剂、法医、材料等工业及科研领域。

矿物鉴定  XRD录井钻井 催化剂研发 选矿效率

矿石品位  能源勘探    腐蚀物鉴定与防腐

石油地质  药物多晶型  材料成分及结构

XRF录井钻井  真假药识别  教育与科研

XRD-XRF联用仪/配置

1、仪器标配一个样品系统,检测时只能对单个样品进行检测分析。

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关键词:标准
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