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XTD PCB板材测厚仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号XTD
  • 品牌天瑞仪器
  • 所在地苏州市
  • 更新时间2025-03-07
  • 厂商性质生产厂家
  • 所在地区苏州市
  • 实名认证已认证
  • 产品数量441
  • 人气值299633
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苏州吉恩斯检测技术服务有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,公司专业从事测厚仪,RoHS检测仪,RoHS2.0检测仪,手持式光谱仪,手持式合金分析仪,金属膜厚仪,金属镀层检测仪,电镀镀层测厚仪,塑料重金属检测仪,铝合金元素分析仪,矿物微量元素分析仪等仪器的研发、生产和销售。产品品种齐全,为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供专业解决方案。

 

吉恩斯分析仪器——您科研探索的得力助手


在科研探索的道路上,精准、高效的分析仪器是每一位研究者追求的伙伴。吉恩斯分析仪器,以其高精度性能和稳定的品质,为您的科研之路保驾护航。


吉恩斯分析仪器采用先进的技术和设计理念,确保在各类实验场景中都能发挥出色。其高精度测量功能,让您的数据更加准确可靠;快速响应速度,大大提升了实验效率;同时,智能化的操作系统让操作更加便捷,即使对于初学者也能轻松上手。


吉恩斯分析仪器广泛应用于化学、生物、医药、环保等多个领域,助力科研工作者们取得更多突破性成果。无论是实验室研究还是工业生产,吉恩斯都能为您提供量身定制的解决方案,满足您不同的需求。


我们深知科研探索的艰辛与不易,因此吉恩斯分析仪器在品质上始终追求上进。我们采用严格的生产工艺和质量控制体系,确保每一台仪器都能达到最高标准。此外,我们还提供完善的售后服务,让您在使用过程中无后顾之忧。


选择吉恩斯分析仪器,就是选择了一个值得信赖的科研伙伴。让我们一起携手,探索科学的奥秘,共创美好未来!

 

 

 

 

 

点击展示更多内容
测量范围PCB板材电镀镀层厚度测量、0.01um-60um 测量精度1% 产地国产
加工定制 外形尺寸760mm*550mm*635mmmm 重量100kg
PCB板材测厚仪XTD是一款于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、PCB线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析光谱仪。仪器采用超大样品腔设计,搭配微聚焦X射线管,可以满足PCB板复杂的测试要求。
PCB板材测厚仪 产品详情

行业应用:PCB 板材(镀铜镍金)

        PCB( Printed Circuit Board),中文名称为印制电路板,又称印刷线路板,是重要的电子部件,是电子元器件的支撑体,是电子元器件电气连接的载体。由于它是采用电子印刷术制作的,故被称为“印刷”电路板。
       PCB 的上游原材料主要包括覆铜板、铜箔、铜球、半固化片、金盐、油墨、干膜及其他化工材料。
        PCB 的一个显著特点是下游应用领域覆盖面广泛,涵盖通信、计算机、航空航天、工控医疗、消费电子、汽车电子等。其中通信、计算机和消费电子已成为 PCB 三大主流应用领域。

       在PCB的生产过程中,各种电子元器件很多都有用到电镀工艺,其中镀层的厚度的薄厚也直接影响着PCB板的质量,所以在PCB板的生产过程中,能实时的监控PCB板材中的电镀层厚度是非常重要的,但是因为PCB板复杂的设计,一般的测厚仪很难满足PCB板材行业的测试要求。

       我公司设计、研发、生产的PCB板材测厚仪XTD 是一款专门为大型板材,特别是 PCB 板材类电镀层厚度测量的光谱测厚仪,仪器配置超大腔体设计,可满足市面上 95%以上的板材类镀层检测,搭配无感自动对焦,可实现对贴片电阻,电容,二极管,针脚等微小配件的高精度微区定位检测,同时仪器采用无损变焦检测技术,有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围 0-90mm,*可以满足复杂的PCB板材直接测量,无需对PCB板材进行拆解测量。

无需对PCB板材上的电子元器件进行拆解,就可以直接测量

PCB板材测厚仪XTD仪器优势

1)搭载微聚焦 X 射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,小测量面积达 0.03mm²
2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽
深度范围 0-90mm
3)核心 EFP 算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数
据分析(钕铁硼磁铁上 Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测层 Ni 和第三层 Ni 的厚度)
4)配备高精密微型移动滑台,可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测
5)装配高效率正比接收器,即便测量 0.03mm²以下的样品,几秒钟也可达到稳定性
6)可同时分析 23 个镀层,24 种元素,测量元素范围:氯 Cl(17)- 铀 U(92),涂
镀层分析范围:氯 Cl(17)/锂 Li(3)- 铀 U(92),涂镀层低检出限:0.005μm
7)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作
8)标配 2 准直器自由选择,小测量面积可达 0.03mm²
9)配有微光聚集技术,近测距光斑扩散度小于 10%

 仪器技术参数

1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)
2. 涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂 Li(3)- 铀(U)
3. 厚度低检出限:0.005μm
4. 成分低检出限:1ppm
5. 小测量直径 0.2mm(小测量面积 0.03mm²)
6. 对焦距离:0-90mm
7. 样品腔尺寸:530mm*570mm*150mm
8. 仪器尺寸:760mm*550mm*635mm
9. 仪器重量:100KG
10. 多元迭代 EFP 核心算法
专业的研发团队在 Alpha 和 Fp 法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二
次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出 EFP 核心算法,结
合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的
标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的
厚度及成分含量。
单涂镀层应用:如 Ni/Fe、Ag/Cu 等
多涂镀层应用:如 Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn 等
合金镀层应用:如 ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu 等
合金成分应用:如 NiP/Fe,通过 EFP 算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精
准分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的 Ni/Cu/Ni/FeNdB,层 Ni 和第三层 Ni 的厚度均可测量。

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