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TT230氧化膜测厚仪/覆层测厚仪/涂层测厚仪/涡流测厚仪
产品概述：
TT230氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。TT230氧化膜测厚仪由于体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
本仪器符合以下标准：
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
功能特点：
TT230氧化膜测厚仪采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
具有米、英制转换功能；
具有打印功能，可打印测量值、统计值；
具有欠压指示功能；
操作过程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能；
具有自动关机功能。
技术参数：
基本配置：
主机
标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
铝基体
充电器
可选附件：
TA230打印机
