CHY-HS 高精度0.1微米自动薄膜测厚仪

高精度自动薄膜测厚仪CHY-HS 0.1微米测厚仪*

规格：CHY-HS

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品牌：sumspring三泉中石

在工业生产和生活应用中，薄膜的厚度是一项非常重要的参数，因为它直接关系到薄膜材料能否正常工作，尤其是一些微电子薄膜，光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等。除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度密不可分。                  

济南三泉中石生产的CHY-HS高精度自动薄膜测厚仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度的测量。该仪器精度高，误差小，操作简单方便，同时配备微型打印机，方便查看和打印数据结果。

高精度0.1微米自动薄膜测厚仪

技术特征

1.配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 ；

2.打印数值及每次测量结果，方便用户分析数据 ；

3.仪器自动保存达100组测试结果，随时查看并打印 ；

4.标准量块标定,方便用户快速标定设备 ；

5.配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，误差小 ；

6.提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；

7.配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输。

高精度0.1微米自动薄膜测厚仪 技术参数              

测量范围 ：0-2mm （其他量程可定制）              

分辨率 ：0.1um              

测量速度 ： 10次/min（可调）              

测量压力 ：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）              

接触面积 ：50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种              

进样步矩 ： 0 ～ 1300 mm(可调)              

进样速度 ： 0 ～ 120 mm/s(可调)              

机器尺寸： 450mm×340mm×390mm (长宽高)              

重    量： 23Kg              

工作温度：15℃-50℃                    

试验环境：无震动，无电磁干扰              

工作电源：220V 50Hz

参照标准

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、

ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、

JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817