一、仪器特点：
RJTC-9000型涂层测厚仪是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、低电压指示、其性能达到当代同类仪器的*水平。
二、应用范围：
本仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
三、工作原理：
RJTC-9000型型涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。
四、技术参数
1、测量范围： 0~9000μm
2、测量误差： <3%±1μm
3、Z小示值： 1μm
4、显示方式： 4位液晶数字显示
5、主要功能：
（1）.测量： 单探头全量程测厚
（2）.存储： 可存入测量数据254个
（3）.存读读出： 读出已存入测量数据
（4）.校正： 随机标准试片校正
（5）.打印： 选配微型打印机
（6）.背光： 采用*的EL自动背光
（7）.关机： Z后一次测量后8分钟左右自动关机
（8）通讯： 通过232串口与微机通讯
6、电源： 3.6v充电电池
7、功耗： Z大功耗100mw
8、外形尽寸： 50 *95 *24mm3
9、重量： 90g
10、使用环境温度： 0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%
11、基体Z小厚度： 0.2mm
12、Z小曲率半径： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示： 左上角显示＂＂
*临界厚度小：工件铁基厚度大于1mm时,其涂层厚度的测量不受铁基厚度影响。
第二章 应用方法
阅本章内容时，应结合仪器，对照附图，熟悉仪器外部结构及各部位名称。
一、开机前准备：根据电池仓盖指示方向打开电池仓，电池正极朝外放入一节3.6v电池，压好电池仓盖。
二、按键名称及作用
A."开"健，为复合健。在关机状态时，为开机键；在开机状态时，为关机键；仪器在自动关机后应按住此键可开机。
B."号"键,为菜单键。
C."+"、"-"键,为复合键
D."HL":仅在校准样片时有效,作用为在校准样片时把测量值确认为其样片真实值。
E."ET":在菜单中选择某一功能状态。
三、使用方法
1.开机：先取开探头线插在仪器上，然后按动“开”键后，仪器进入校准状态（探头与铁基或磁场的距离保持10cm以上），开机进入测量状态后显示屏显示图A所示：
2.校准:
通过样片校准后,该参数存入仪器,方便以后调出直接测量,仪器上电后可以直接从铁基开始校准。
把探头放在被测件的毛坯上（一定要打磨光滑）或随机携带的铁基试块上,屏幕上出一数值（0或其它）,一手按住探头不动,另一手按住仪器侧面"HL"键屏幕显如右图D,铁基校准完毕显示“样片一”。
拿掉探头,把1号样片（109 μm）放到铁基上,拿探头测量,屏幕上显示出一数值。手按V住探头不动,按住侧面"HL"键屏幕显示如图B，1号样片校准完毕显示“样片二”。
拿掉探头,把2号样片（3113μm）放到铁基上,拿探头测量,屏幕显示出一数值,手按住探头不动,按住侧面"HL"键,屏幕显示“铁基”。如图C，样片校准完毕。
此时两种样片校准完毕，可直接进行测量，或把两种样片分别放在校准铁基测量，如超出误差范围，可对超出样片重新校准，校准完毕，可直接进行测量。
测量时要注意测量指示，箭头消失以后再测量（如图）。
3.在测量状态下存储
在测量状态下屏幕显示
为测量值,如需存储按动仪器上面“+”键，存储地址自动加1，例如前地址为005，测量厚度值为166um存储后
屏显如图E：
屏显结果只能被存储一次，如需另外存储可重新测量。在测量状态下，长按“-”键，存储序列号就会回归至当前地址001，即开始重新存储。
4．设置使用：
无论在什么状态下按住“号”菜单仪器三种功能循环显示，循环方式为：存储读出------打印------通讯，按“+/-”选择。（如图F）例如要设为“打印”状态，在箭头指向“打印”标志时再按ET键，仪器厂打印状态。
（2）首先把打印机准备好，把打印机插好联线，装入打印纸，接上电源，此时红灯绿灯都亮，若是绿灯没有亮则按动“SEL”键，绿灯亮起说明打印机已准备好，把打印机联线另一头三针插头根据套红管插针仪器带红点一侧的方向，插入仪器。仪器在“打印”状态时按“+”键，仪器开始打印：按“-”键，仪器结束打印。
（3）通讯
打开通讯软件，把软件上的“打开串口”打开，其它设置都是默认设置，仪器在“通讯”状态时按“+”键，仪器开始通讯；按“-”仪器结束通讯
四、注意事项：
（１）测量曲面及圆柱体，曲率半径较小时，应在未涂覆的工件上校准，以保证测量精度。
（２）在曲率半径较小的凹面内测量时，应重新校正。
（３）为保证测量精度，校正在开机10分钟后进行。
五：影响测量的若干因素
基体金属磁化
磁性法测量受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片
上对仪器进行校对。
基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
边缘效应
本仪器对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
曲率
试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
表面粗糙度
基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，在
不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。
如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属覆盖层，再校对仪器零点。
磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性测量厚度的工作。
附着物质
本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
探头的放置
探头的放置方式对测量有影响，在测量中使探头与试样表面保持垂直。
试片的变形
探头使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会出现不太可靠的数据。
读数次数
通常仪器的每次读数并不*相同。因此必须在每一测量面积内取几个测量值，覆盖层厚度的局部差异，也要求在给定的面积内进行测量.表面粗糙时更应如此。
附一 装箱单
一、RJTC-9000型型涂层测厚仪 一台
二、3.6v充电器 一个
三、3.6v充电电池 二节
四、探头 一支
五、标准样片 一盒
六、铝合金箱 一个
