工作原理
低功率X射线管的辐射激发被分析样本原子的荧光辐射。样本发出的辐射束被馈送到分析晶体。 硫的荧光辐射（SKα）以固定角度反射，并通过气体正比计数器检测。 辐射强度与样本中的硫含量成正比。
所获得的数据由集成计算机收集并处理。结果可以在设备屏幕上输出或通过内部打印机进行打印。
Ø 特征
Ø 硫的测定范围 – 可达 3 ppm；
Ø 极低检测限值 – 1 ppm；
Ø 高性能 – 每个样本检测只需3分钟；
Ø 通过使用高孔径的X射线光学电路，可以实现高重复性；
Ø 两种测量模式：
- 真空室-样本分析在空气环境中进行，而光路则处于真空中（无需适用昂贵的氦气）；
- 氦气吹扫–*符合ASTM标准；
Ø 触摸屏和用户友好型界面；
Ø 内置控制和处理计算器；
Ø 可在内置打印机上打印报告；
Ø 使用方便，操作可靠；
Ø 防止样本在分析仪内部泄漏；
Ø 自动补偿其它元素的影响，减少分析误差。
Ø 规格
参数 | 数值 |
硫含量测定范围，单位：ppm | 3 –50 000 |
600秒检测时长的统计检测极限，单位：ppm | 1 |
测对测量误差极限： • 从 3 ppm到 60 ppm: • 从60 ppm到 50 000 ppm: 此处，C =硫成分的测量值 。 | ΔC = ±（1.6642+0，0584*C； ΔC = ±0.18*C0.818 |
一般相对测量误差极限，单位：% | 0，5 |
在置信度P = 0.95时恒定工作条件下的可重复性： • 从 3 ppm到 60 ppm: • 从 60 ppm 到 600 ppm: • 从 600 ppm 到50 000 ppm: 此处，C=硫的质量分数。 | r = 1.7+ 0.0248*C； r = 4； r = 8 + 0.0188*C. |
对照样本钼的计数率，单位：imp. / Sec | >8 000 |
对比度（对照样本钼的计数率与对照样本氟塑料的计数率之比） | > 100 |
电源 | 220±22 V，50±1 Hz |
能耗 | 250 V-A |
外观尺寸（长×宽×高），mm | 450×400×415 |
重量，kg | 45 |
平均*时间，单位：小时 | 不低于 16 000小时 |
平均寿命，单位：年 | 不低于10年 |
Ø 软件
可通过触摸屏进行分析仪的控制和操作，同时也能输出测量结果。软件有英文界面。
ASW-2 软件的功能：
- 选择或新建操作员；
- 选择测量模式；
- 选择或设置仪器的主要参数；
- 检查计数率和对比度的相对测量误差；
- 打印测量报告或光谱；
- 对硫含量未知的样本进行分析。
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