Phasics提供创新的方案来解决*的透镜表征，包括离轴和轴上的MTF和多种波长下的波前误差，受益于Phasics的*技术，即使在大视场条件下也能提供精确的结果，Phasics的Kale测量仪的特点：
-单次测量，MTF测量高达截止频率，精度类似于干涉测量法
-高品质的准直光源，经济有效的解决方案
-无需重新校准离轴测量，自动对焦，易于校准和多种应用
-几种不同的波长（默认为RGB + IR），在几个方位角处测量
-全自动测量过程
MTF测量仪可测的参数
-轴上和轴外MTF，通过焦点MTF
-传输的波前错误，Zernike多项式
-镜头参数：EFL，F＃，OPD在镜头出口瞳孔
-散光，图像失真，场曲率
-相对照度曲线
MTF测量仪的具体参数：
参数 | 参数值 |
光学设置 | 有限到无限配置 |
波长范围 | 400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm |
入瞳直径 | Up to 8.8 mm |
F# | > 1.8 mm |
Flange焦距 | 8 to 30 mm |
焦距范围 | 5 to 500 mm |
视场角 | Up to ±120° |
MTF on-axis | 准确性 <1%* - 重复性 <0.5%* |
MTF off-axis | 准确性 <2%** -重复性 <1%** |
MTF 精确度 | LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02 |
MTF 重复性 | LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01 |
失真 | 准确性 <0.5% - 重复性 <0.05% |
场曲率 | 准确性 <5µm - 重复性 <1µm |
OPD（光程差）轴上 | 准确性 20 nm RMS -重复性<5 nm RMS |
Kaleo Bench-iR介绍：
Phasics借助Kaleo Bench-iR系列掀起了红外光学质量控制领域的革命。 这些创新的工作台可在一口快速采集中同时提供MTF和波前质量（像差，WFE）。 它们涵盖了从1.2 µm至14 µm的整个iR范围。 其*的技术具有*的高分辨率和灵敏度，可确保准确表征，同时简化设置和调整。
Kaleo Bench-iR特点和功能：
-沿任何方向
-任何瞳孔大小
-轴上和轴外
-高达截止频率
-各种对焦方法
-EFL，F#，NA
-畸变
-相位图的实时过滤
-色差
-任何瞳孔大小的TF MTF
-与设计比较
Kaleo MTF离轴透镜测试平台介绍：
Kaleo MTF离轴透镜测试平台可在多个波长下执行自动离轴MTF和波前误差测量。 它还通过聚焦MTF，畸变，EFL等方式来测量像差（泽尼克系数）。依据镜头的出瞳参数，精确计算并测量透镜的离轴参数。 该工作台利用Phasics提供的完整的质量控制技术，具有易用性和多功能性。
Kaleo MTF 离轴透镜测试平台特点
-400至1100nm的6个波长
-在不同的方位角的测试
-*自动化
Kaleo-i MTF测量仪介绍：
Kaleo-i MTF测量仪可以表征*的光学质量。 它满足生产线中符合ISO标准的测量要求。 它测量单焦点和多焦点*（IOL和MIOL）的MTF和屈光度。 利用PHASICS的波前传感器，可以从像差图推导出IOL和MIOL设计的深入特征：功率图，聚焦MTF，方位角（2D）MTF，表面检查。 在潮湿和干燥条件下，只需要一种仪器即可控制单焦点和多焦点镜片的质量。几秒钟内，即可确定大多数IOL参数（包括屈光度数，屈光度，MTF）。 测量结果高度可重复且准确。
Kaleo-i MTF测量仪的特点：
-符合ISO 11979-2标准的电源和MTF上通过/失败显示
-单个镜头和批次自动报告
-试管和模型眼
-快速的计算机辅助对准（仅对中）
