CM Contamination Tester 离子污染测试仪

 离子污染测试仪适用于检测电子元器件/电路板/电路板组

介绍新的和改进的，6西格玛认证的CM+系列-业界优越的，获奖的和世界上**个联合玫瑰和PICT离子污染测试仪。

虽然通常被称为“清洁度测试”，但污染计实际上是一种用来测量离子污染的工具。40多年来，这种测试方法一直被认为是制造电子电路板、元件和组件的重要质量保证和过程控制工具。

从历*看,标准IPC-J-STD001表示,议会被清洗的值< 1.5µg / cm2等价。然而，新设计与Gen3系统引入的新过程控制度量相关:过程离子污染测试(PICT)。CM+系列根据所有现有的测试方法(通常称为ROSE测试)和新的PICT测试来测量离子污染的量。

来自Gen3系统的CM+系列有5种不同的型号和5种不同的油箱尺寸——在选择测试系统时，为被测电路使用尽可能小的油箱尺寸是很重要的。

所有的量程都使用了纯金测试单元、弹道放大器和强有力的泵送系统，以确保即使在非常低的电导率值下也能获得非常高的测量精度。基于PC的软件用于生成图形化的测试数据，通过/失败分析，以及根据现行标准使用测试方法自动打印出硬拷贝。

在与罗伯特·博世的合作研究中，CM+范围已被证明符合6西格玛标准，在不同的生产地点使用验证程序。作为一个过程工具，CM+系统可以用于优化制造技术和材料，并在不同的生产现场进行制造控制，具有很高的确定性。

新的CM+范围包括以下内容:

CM11+、CM22+、CM33+、CM33L+、CM60+、CMBBT+。

关键特性

六西格玛(6σ)验证作为过程控制工具

3分钟内完成测试周期

高的流体循环速率，确保快速**PCBA中的离子污染物，同时始终提供平稳、无气泡的循环

*的曲线拟合分析算法(拟合的优点)预测较长试验的结果

*的纯金测量单元，弹道放大器，测试精度<0.005mS/cm

**测量，即使测试溶液占被测表面面积的比例很大

二氧化碳补偿功能，消除大气污染对污染结果的任何影响

自动温度补偿

通常在6分钟内*恢复

全新系列PCB/元件处理架，集成排水系统

措施符合所有和MIL规格的新ox-sizing:border-box;margin-top:0px;margin-bottom:0px;padding:0px;min-height:26px;line-height:26px;color:#333333;font-family:Arial, "Microsoft YaHei", "5FAE软雅黑", "5B8B体", "Malgun Gothic", Meiryo, sans-serif;font-size:14px;font-variant-numeric:normal;font-variant-east-asian:normal;text-align:justify;white-space:normal;background-color:#F7F8FA;">所有CM+系统的测量重复性和可靠性都达到了2%

CM+系列系统具有*的精度、灵敏度、线性度、精密度和重复性