NANOTRAC WAVE II 纳米粒度及zeta电位仪

 纳米粒度及zeta电位仪
NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，*消除由于空间位阻

外部环境：

电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz

环境要求：温度，10-35°C

国际标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特点：

• 采用先进的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法

• “Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位， 避免样品交叉污染与浓度

• 异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。

• 可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。

• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。

• 快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。

• 膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。

• 无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果

• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。