X-Strata920 日立快速测量X射线荧光测厚仪

日立快速测量X射线荧光测厚仪

使用X射线荧光(XRF)进行的镀层厚度测量是经过证明的快速的无损分析技术，X-Strata920设计为面向电子产品和金属表面处理，测量单层和多镀层(包括合金层)，应用专家对 X-Strata920进行了进一步升级，确保获得可靠、可重复结果，满足数百种应用，包括 PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面处理、耐磨损处理、耐高温处理等。

一、日立快速测量X射线荧光测厚仪的技术要求

1、测试环境温度为22℃±3℃

2、测试环境湿度为65%以内

3、台面要求平整且台面大小不低于700*1200MM

二、日立快速测量X射线荧光测厚仪的技术指标

1、所有验收测试均以测量随机标准片及使用12mil(0.3mm)准直器进行测量。如使用小于12mil(0.3mm)准直器或用户样品测量，误差可能会偏大。

2、第yi层镀层精度(相对于标准片)：

1-10uin(0.025um-0.25um)误差为±1.0uin(0.025um)。

10uin(0.25um)以上为±5%。

3、第二层镀层精度(相对于标准片)：误差为±10%。

三、日立快速测量X射线荧光测厚仪的工作特点

1.测量元素范围：钛Ti22---铀U92；

2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；

3.测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；

4.快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；

5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；

6.进行贵金属检测，如Au karat评价；

7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；

8.强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；

9.结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；

10.测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；

11.激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；

12.拥有NIST认证的标准片；

四、日立X射线荧光测厚仪售后服务

1、经客户要求，谱赛斯的工程师在做出故障问题的初步判断后，如有需要, 将在办公期间24小时内提供现场技术支持服务。国家法定节假日或紧急情况，谱赛斯有义务配合客户紧急安排维修。

2.质保期内维修服务承诺和计划：质保期内，人为损坏或不可抗力以外的问题谱赛斯有义务随时安排人员免费进行维修及配件更换。

3.质保期后维修服务承诺及相关收费标准：质保期后，谱赛斯与客户签订年度合同，仪器有任何问题工程师随时为您服务，如更换配件则需要收取配件费用。

4.其它服务承诺：

1)为客户提供壹年的仪器保修服务。保修期为仪器安装调试合格签字之日后12个月；

2)在设备到货后的两周内根据用户要求安排仪器的安装及调试；

3)安装仪器之前，向用户提供详细的仪器安装指南，并向用户提供仪器安装所需的配套设备信息表。