产品说明：
本仪器包括透射型（WNLO-ID）和反射型（WNLO-RID）双4f相位成像仪两款产品。双4f相位成像测量仪是本公司自主研发的新型光学非线性测量仪，拥有自主知识产权。该测量仪适用于从可见光到近红外波段（特别是光通信波段）的非线性吸收和非线性折射系数的测量。该仪器只需单个脉冲就可以完成介质非线性系数的测量，通过对参考光斑和非线性光斑的分析，就可直接确定材料的非线性折射系数大小和符号，并同时测量材料的非线性吸收系数。WNLO-ID型双4f成像仪适用于透明材料光学非线性的测量，WNLO-RID型双4f成像仪适用于不透明介质表面以及不透明衬底上薄膜的光学非线性的测量。与现有的其他光学非线性测量方法相比，该仪器可在激光脉冲的空间分布、时间分布和能量不稳定的情况下实现材料光学非线性的精确测量。该仪器利用自主研发的控制软件，操作简单方便，并利用图像及数据处理软件实现数据自动化采集处理。WNLO-ID&WNLO-RID型双4f相位成像测量仪使用非常方便，对光源要求较低，可满足高校、科研院所及新材料企业的新型材料的研发需求。
本仪器包括透射型（WNLO-ID）和反射型（WNLO-RID）双4f相位成像仪两款产品。双4f相位成像测量仪是本公司自主研发的新型光学非线性测量仪，拥有自主知识产权。该测量仪适用于从可见光到近红外波段（特别是光通信波段）的非线性吸收和非线性折射系数的测量。该仪器只需单个脉冲就可以完成介质非线性系数的测量，通过对参考光斑和非线性光斑的分析，就可直接确定材料的非线性折射系数大小和符号，并同时测量材料的非线性吸收系数。WNLO-ID型双4f成像仪适用于透明材料光学非线性的测量，WNLO-RID型双4f成像仪适用于不透明介质表面以及不透明衬底上薄膜的光学非线性的测量。与现有的其他光学非线性测量方法相比，该仪器可在激光脉冲的空间分布、时间分布和能量不稳定的情况下实现材料光学非线性的精确测量。该仪器利用自主研发的控制软件，操作简单方便，并利用图像及数据处理软件实现数据自动化采集处理。WNLO-ID&WNLO-RID型双4f相位成像测量仪使用非常方便，对光源要求较低，可满足高校、科研院所及新材料企业的新型材料的研发需求。
型号：WNLO-ID & WNLO-RID
【可见光及近红外波段光学非线性系数测量仪】
【可见光及近红外波段光学非线性系数测量仪】
产品特点：
1、单脉冲测量，无需样品移动，特别适用于薄膜光学非线性的测量；
1、单脉冲测量，无需样品移动，特别适用于薄膜光学非线性的测量；
2、反射双4f成像仪可非常方便的测量不透明介质表面以及不透明衬底上薄膜的光学非线性；
3、同时确定材料的非线性折射符号、非线性折射系数、非线性吸收系数；
4、测量波段：可见光和近红外波段（可根据用户需要选定测量波段范围)；
5、对激光脉冲的空间分布、时间分布和脉冲能量的稳定性要求比较低，适用各类可调谐激光光源（OPO，OPG等）在宽波段范围内进行光学非线性测量；
6、自主研发的控制软件和数据分析处理软件，界面友好，操作简单。
测量示例：
测量示例：
