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  • Panametrics 35HP\35DL-HP超声波测厚仪

Panametrics 35HP\35DL-HP超声波测厚仪

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  • 更新时间2021-08-23
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Panametrics35/35DL超声波测厚仪Panametrics35HP/35DL-HP超声波测厚仪35系列袖珍型35是一款手持式超声测厚仪
Panametrics 35HP\35DL-HP超声波测厚仪 产品详情

  

Panametrics 35/35DL超声波测厚仪

Panametrics 35HP/35DL-HP超声波测厚仪

35系列

袖珍型35是一款手持式超声测厚仪。这款仪器使用单晶探头可对金属、塑料、橡胶、玻璃及复合材料进行精确的测量。具有宽泛的厚度范围:0.08毫米~635.0毫米(0.0030英寸~25.0英寸)。 具有可选的实时波形和调整模式功能。

Panametrics 35系列的特性

• 所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。
• 可测厚度范围宽:0.08 mm~635.0 mm(0.0030 in.~25.0 in.),取决于仪器和材料。
• 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。
• 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。
• 手持式,仅重0.24公斤(8.5盎司)。
• ZUI小/ZUI大模式
• GAO-低报警
• 英制和公制显示(英寸或毫米)
• 多种语言用户界面
• 长效电池

Panametrics 35型和35DL型

在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型测厚仪使用频率范围为2.25~30 MHz的探头,因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说,探头频率越GAO而直径越小,对较薄或弯曲的工件测量的精度越GAO。

应用
• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

Panametrics 35HP型和35DL-HP型

HP测厚仪具有极低的超声频率带宽和特殊的脉冲发生器-接收器。这种设计的主要目的是在测量较厚的、声速衰减明显或声速散播强的材料时优化超声波的穿透性。通常情况下,使用大多数其它超声测厚仪无法对这些材料进行测量。

应用
• 大多数较厚的或具有GAO声速衰减性的材料
• 厚金属铸件
• 厚橡胶轮胎、履带
• 玻璃纤维船体、储罐
• 复合材料板
• 分辨率为0.01毫米或0.001英寸

35HP型测厚仪是测量玻璃纤维和复合材料部件的理想工具,其测量的对象包括对厚度控制有严格要求的航空航天器部件、船体及储罐。

为什么使用HP测厚仪?
三十多年来,我们开发了专用于测量GAO声速衰减材料及厚材料的HP(GAO穿透)系列超声测厚仪。该系列测厚仪不仅可使用频率低到0.5 MHz的探头,而且与其配套使用的电子设备(脉冲发生器-接收器)还可被极大程度地优化设置,以在如此低的频率下处理信号。Panametrics测厚仪因在测量厚橡胶、玻璃纤维、复合材料及其它坚韧材料时所表现的性能,而赢得了良好的口碑。

Panametrics 35系列的其它特性

利用减缩率,可测量金属材料因弯曲而变薄的临界厚度值。


减缩率测量
所有仪器型号的标准配置都具有差分模式和减缩率模式。差分模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比。典型的应用是对为制造车身面板而弯曲成形的钢板进行测量。

可直接显示声速数值的声速测量模式


材料声速测量
所有Panametrics 35型仪器均具有测量材料声速的性能。在材料声速与其它特性可能有关系的应用中,这个标准功能非常有用。典型应用包括监测金属铸件的球化程度,以及监测复合材料/玻璃纤维材料的密度变化。Olympus提供一个数字卡尺,用于自动传输测量厚度值。

自动调用功能可简化测量操作
自动调用功能可使厚度测量简化。在选择了任何一种所存的探头时,35型仪器都可调用相关内置探头的所有参数。
存储的标准设置标准设置包括大多数常用的探头。
存储的自定义设置在标准设置不能满足特殊的应用需求时,这些测厚仪可以创建、存储和调用多达20个自定义设置(35型和35HP型可调用10个自定义设置)。

在这种基本应用中不可使用测微计。然而,可以使用配有M208探头的35型仪器,在不损坏玻璃的情况下,进行校准精度达0.001毫米(0.0001英寸)的厚度测量


超薄钢板(0.10毫米或0.004英寸)的厚度和波形。

为什么使用超声技术?

利用超声波得到的测量值准确、可靠,并具有可重复性。在材料的另一侧很难接触到且不能使用测微计及其它测量仪进行测量时,使用超声技术,在无需切开或损坏被测材料的情况下,仅从材料的一侧发射声波,即刻就可得到数字测量读数。

35型、35DL型、35HP型和35DL-HP型技术规格*

测量
模式1: 使用接触式探头,测量在激励脉冲和DIYI个底面回波之间的时间间隔。
模式2: 使用延迟线式或水浸式探头时,测量在激励脉冲后的DIYI个界面回波和DIYI个底面回波之间的时间间隔。
模式3: 使用延迟线式或水浸式探头,测量在激励脉冲之后,位于DIYI个界面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔。


测量类型:
厚度、声速、渡越时间。
厚度测量范围*:0.08毫米~635毫米(0.003英寸~25英寸)
*厚度范围因型号、材料、探头种类、表面条件和所选设置的不同而不同。

材料声速范围:0.5080毫米/微秒~18.699毫米/微秒
(0.02000英寸/微秒~0.7362英寸/微秒)


分辨率(通过键区可选):
低: 0.1 mm (0.01 in.)
标准: 0.01 mm (0.001 in.)
GAO: 0.001 mm (0.0001 in.)
(35型和35DL型)

渡越时间测量范围:0.0 µs~109.5 µs

渡越时间分辨率:固定在000.01 µs。

测量更新速率:4、8、16或ZUI大频率值(16~20 Hz,因应用和测量模式不同而不同)。

探头频率范围:2.25 MHz~30 MHz(35型和35DL型)
0.5 MHz~5.0 MHz(35HP型和35DL-HP型)

ZUI小/ZUI大模式:显示当前厚度、ZUI小厚度或ZUI大厚度(视设置而定)。

显示保持/空白:显示上一个读数后,屏幕显示空白或者持续显示这个读数。
报警模式:可编程GAO/低报警设定点,带有视听报警指示器。

差分模式:显示实际测量值和参考值之间的厚度差。

缩减率模式:显示厚度数值及实测厚度与参考厚度的百分比差值。

自动调用功能:自动为各种默认的和自定义的探头设置调节内部参数。

默认设置的数量 自定义设置的数量
35型 21 10
35DL型 21 20
35HP型 17 10
35DL-HP型 17 20

其它标准特色:校准锁定模式、内部诊断检测模式、公制/英制单位、机载统计数据(只限35DL型和35DL-HP型)

电源
电池:3节AA碱性电池或镍氢电池。
工作时间:电池一般可工作150小时;使用背光可连续工作30小时。
电池电量指示器:持续显示剩余电量。
电池省电模式:电源自动关闭/持续开启
交流电源:可选。

一般规格
符合IP-65环境标准:防溅、防撞击机壳。带有触感及声音反馈的密封颜色编码键盘。
工作温度范围:
-10° C~+50°C(+14°F~122°F)
外形尺寸:(宽 x GAO x 厚)
84 mm x 152 mm x 39.6 mm
(3.31 in. x 6.0 in. x 1.50 in.)
重量:0.24公斤(8.5盎司)
自定义语言功能:可将显示文字译为多种语言。

35DL型和35DL-HP型的
内置数据记录器

数据记录器:35DL型和35DL-HP型仪器可通过USB端口或可选RS-232接口,识别、存储、调用、清除及传输厚度读数和探头设置信息。
ZUI大存储量:至少31000个厚度读数或者1300个带厚度读数的波形(带有波形选项)。
已储存的数据文档:每个所存的厚度读数的全部信息都被归档,并带有测量状态标记及用以识别材料声速、探头等参数的设置编号。
文档名长度:8位字母数字字符。
识别编码:10位字符字母数字识别码系统,可识别或查找已保存的数据位置。
4种文档模板:增量型、顺序型及2D栅格型。来自PC机的手动创建文件。

标准附件
手腕带、3节AA电池、试块、探头线缆、耦合剂、便携箱、指导手册、两年有限保修。

选购配件
35/WF: 实时波形
GageView: 接口程序
35DL/RS232: RS-232输出
35DLHP/RS232: RS-232输出
35PCScope: PCScope程序
USB/ADP-115: AC-115电源
USB/ADP-230: AC-230电源
MG2/RPC: 橡胶保护套
35/DLRETRO: 将35型升级为35DL型。
35HP/DLRETRO: 将35HP型升级为35DL-HP型。

*所有技术规格会随时更改,恕不另行通知。

35PCSCOPE


可选35PCSCOPE接口软件可直接在电脑屏幕上即时显示实时超声波形和厚度读数。这个软件在需要更细致地检查设置参数时非常有用。

现在可以看到实时波形并进行调整

操作人员可以在可选的A扫描模式下查看厚度和波形。

所有型号的仪器都带有一个可选的实时波形模式。这个功能可使用户在仪器屏幕上直接观察超声波形(或A扫描),从而确定厚度读数的正确性。调整模式功能方便了探头设置的调整,可在复杂的应用中ZUI大程度的发挥测量性能。
• GAO像素的LCD显示屏可清晰表现实时波形的轨迹。
• 可实时核查厚度读数。
• 有助于完成许多难度很大的应用。
• 范围、延迟或缩放功能可将波形的任何一部分放大并居中。
• 可调整探头的设置参数。
• 将波形存储在数据记录器中,并传送到PC机中。

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