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  • CTS-2009型TOFD多通道超声检测仪 超声波探伤仪

CTS-2009型TOFD多通道超声检测仪 超声波探伤仪

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  • 型号
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2023-09-10
  • 厂商性质经销商
  • 所在地区济南市
  • 实名认证已认证
  • 产品数量180
  • 人气值1346
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 济南金诺无损检测技术有限公司是一家专注于无损检测设备与材料的研发、制造、生产的*,致力于打造国内*的无损检测产品。

   公司主营:

   RT(射线检测):成套成像设备、工业电视、爬行器、ICM比利时进口、射线机、日本理学射线机、常规X射线探伤机、胶片、暗盒、像质计、增感屏、铅字、拉环磁铁、洗片桶、LED观光片、黑白密度计、国产洗片机、进口洗片机、进口套药、国产套药。

   UT(超声检测):超声自动化成套检测设备、电磁超声HSD-EMAT、相控阵检测仪、TOFD检测仪、电磁测厚仪、数字超声波探伤仪、多浦乐探头、试块、耦合剂

   MT(磁粉检测):磁粉自动化检测仪、移动式检测仪、便携式磁粉检测仪、黑磁膏、荧光磁粉、试片、磁力表

   PT(渗透检测):着色探伤机、反差增强剂、黑水磁悬液、试片

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CTS-2009多通道TOFD超声波检测仪兼容欧盟EN12668-1:2010标准,国内NB/T47013.10,DL/T330,GB/T23902标准,能够一次性扫查覆盖200mm厚度焊缝,具备还原缺陷特征功能的合成孔径聚焦(SAFT)技术,采用工业级TFT显示屏,具有全WVGA分辨率(800×600),*胜任在室外和阳光直射的环境下工作,支持全触控操作,提高检测效率
CTS-2009型TOFD多通道超声检测仪 超声波探伤仪 产品详情

CTS-2009多通道TOFD超声波检测仪兼容欧盟EN12668-1:2010标准,国内NB/T47013.10,DL/T330,GB/T 23902标准,能够一次性扫查覆盖200mm厚度焊缝,具备还原缺陷特征功能的合成孔径聚焦(SAFT)技术,采用工业级TFT显示屏,具有全WVGA分辨率(800×600),*胜任在室外和阳光直射的环境下工作,支持全触控操作,提高检测效率。检测仪一次性通过中国特种设备检测研究院的检测并获得B级证书,在类似等效输入噪声、净增益等14个TOFD检测关键指标中达到A类性能指标要求。

“3+4+1”多通道设计:3个TOFD通道可一次覆盖200mm厚度的焊缝检测,传统射线检测的理想替代方案;4个常规通道可对焊缝的表面盲区和底面盲区全覆盖检测,3个TOFD通道和4个PE通道的探头线由同一根电缆线引出;1个单通道作为单通道的TOFD检测及常规超声检测复核。

方波激励,超保真低噪声前置放大技术,缺陷识别更清晰;配合本公司前置放大器CTS-8682,信噪比提高10dB左右。

*的通道间噪声抑制技术,解决国内仪器多通道间串扰问题。

满足国内TOFD标准NB/T47013.10、DL/T330、GB/T 23902,兼容EN12668-1标准。

8.4寸工业级TFT显示屏(800×600),全触控操作,提高您的检测效率。

高达400MHz的A/D采样频率,高采样深度。

一次性TOFD扫描长度达40m。

A扫描、B扫描、TOFD扫描等多种探伤功能。

丰富的数据接口,双USB接口,LAN网络接口,HDMI高清数字接口。

多种扫查器可选,为用户定制专用扫查器,标配扫查器为SCQtofd-3。

采用专用航空级定制数据电缆线,信号传输损耗小,柔韧性能特佳。

集成多种标定功能:根据直通波和底波的深度校准,根据直通波的零刻度校准,根据底波的厚刻度线校准;满足各种条件下的图像标定。

集成多种图像处理功能:合成孔径聚焦(SAFT)技术、拉直、差分、对比度、放大等。

集成多种缺陷标记功能:矩形模式、长度模式、高度模式、自由模式,满足各类缺陷的标记。

扫查图像可以直接复制到粘贴板,在报告中直接粘贴;扫查图像可另存为图片,图片的格式可选BMP/JPEG/TIFF/PNG/GIF;检测参数及缺陷信息易于查看,内嵌检测报告模板,检测报告模板可为用户定制。

内嵌曲面工件扫查的工艺参数计算工具,平板工件的多通道工艺参数计算工具,为用户提供检测工艺设计作参考。

离线分析软件同时兼容CTS-1008plus及CTS-2009两款仪器。

存储容量达16G(可外接扩展到32G),存储长度可达5000m以上(扫查精度);全天候探伤数据记录。

便携式设计,重量仅3.0kg(含电池),便于携带。

大容量锂电池,可连续工作6小时,配备两块电池可满足一天的工作量。

一 功能强大的离线分析软件

1、主分析软件

图片1.png


快捷的文件打开模式。

多种深度校准方式选择。

拉直、差分、对比度、放大、合成孔径聚焦(SAFT)、曲线拟合等多种图像处理方法。通过鼠标滚轮可连续调节对比度及SAFT窗口,实时动态更新图像。

多种缺陷标记方式,矩形、长度、高度、自由模式可选。

内置标准检测报告模板,可为用户定制专用检测报告格式。

原始图像与SAFT图像同步显示,缺陷测量评定方便快捷。

图像可复制,可另存为各种格式图片文件,出报告简单轻松。

内嵌曲面工件检测工艺计算及多通道检测工艺计算工具。

1utddfewu08.jpg

2、曲面工件检测工艺计算

提供凹面及凸面工件检测工艺计算,快捷得出弧长、PCS、弦高等工艺参数,弧长用于调节探头间距,弦高用于修正缺陷高度。

1ut发挺人u08.jpg

3、多通道检测工艺计算

支持国内NB/T47013及DL/T330两种标准,可同时设计5个通道的检测参数,满足400mm厚度焊缝的检测工艺。可快捷计算TOFD常用的工艺参数如探头中心间距(PCS)、深度覆盖范围、底面覆盖、时差周期、深度分辨力、扫查面盲区、中心底面盲区、轴偏离底面盲区。

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二、 配套探头及楔块

系列探头的频率范围为1MHz至10MHz,晶片尺寸范围为3mm至20mm,系列楔块的角度为45°、60°及70°,满足标准推荐使用的要求,覆盖400mm厚度的检测要求。探头接口规格为L5或C5接口。

探头规格:

型号

频率(MHZ)

晶片直径(mm)

10N3-T1

10

3

10N6-T1

10

6

7.5N3-T1

7.5

3

7.5N6-T1

7.5

6

5N6-T1

5

6

5N12-T2

5

12

2.5N6-T1

2.5

6

2.5N12-T2

2.5

12

1N20-T3

1

15

型号说明:以10N3-T1为例,10表示探头频率,N表示晶片材料代号,3表示晶片直径,T1表示探头外壳型号。

楔块规格:

型号

钢中纵波折射角

匹配探头外壳型号

ST1-45L

45°

T1

ST1-60L

60°

T1

ST1-70L

70°

T1

ST2-45L

45°

T2

ST2-60L

60°

T2

ST2-70L

70°

T2

ST3-45L

45°

T3

ST3-60L

60°

T3

ST3-70L

70°

T3

型号说明:以ST1-45L为例,ST1表示楔块型号,匹配的探头外壳型号为T1,45表示钢中折射角为45°,L表示检测波形为纵波。

衰减器误差

每12dB ± 1dB

等效输入噪声

<40×10-9 V/√HZ

脉冲类型

负方波,发射电压25~250V连续可调,步进为25V。宽度30~1000ns连续可调,步进为10ns。

工作方式

单、双

阻尼

400、80Ω

工作频率

0.5~22.5MHz

增益

0.0~110.0dB ,步进值:0.1、1.0、2.0、6.0dB;0.1dB档提供智能加速调节功能

声速范围

1000~15000m/s ,连续可调,内置30个常用的材料声速值

ISO 10863-2011 Non-destructive testing of welds - Ultrasonic testing - Use of time-of-flight diffraction technique (TOFD)

ISO 15626-2011 Non-destructive testing of welds - Time-of-flight diffraction technique (TOFD) - Acceptance levels

ISO 16828-2012 Non-destructive testing - Ultrasonic testing - Time-of-flight diffraction technique as a method for detection and sizing of discontinuities

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