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E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，专门用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。
E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，专门用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。
● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。
● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线
● 辐射标志警示
● 仪器经第三方检测，X射线剂量率*符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
硬件技术
● X射线下照式，激光对焦可调样品仓，对于异形不平整样品，无需拆分打磨，可直接测试
● 模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率
● 最小光斑0.2mm，可针对各种样品中的小测试点精确定位，避免材质干扰，测量结果更准确
● 空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；*设计
● 电路系统符合EMC、FCC测试标准
软件技术
● 分析元素：Na~U之间元素
● 分析时间：90秒
● 界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作
● 数据一键备份，一键还原、一键清理功能，保护用户数据安全
● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度
● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。探测器
● 类型：X123探测器（高性能电致冷半导体探测器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶体面积：25mm2
● 分辨率：145eV
●信号处理系统：DP5
X射线管
●电压：0-50v
●电流;2mA
●功率:50W
●靶材：Mo
●Be窗厚度：0.2mm
●使用寿命：大于2w小时
高压电源
●输出电压：0-50Kv
●灯丝电流0-2mA
●功率：50w
●纹波系数：0.1%（p-p值）
●8小时稳定性：0.05%
摄像头
●焦距：微焦距
●驱动:免驱动
●像素：500万像素
准直器、滤光片
●系统：快拆卸准直器、滤光片系统
●材质：多种材质准直器
●光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选
十字激光头
●光斑形状：十字线
●输出波长：红光650nm
●光学透镜：玻璃透镜
●尺寸：Φ10×30mm
●发散角度：0.1-2mrad
●工作电压：DC 5V
●输出功率：<5mW
●工作温度：－10～50℃
其它配件
●开关电源：进口高性能开关电源
●散热风扇：进口低噪声、大风量风扇
●外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）
●样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）
●仪器重量：50kg
●供电电源：AC220V/ 50Hz
●功率：330W
●工作温度：15-30℃
●相对湿度：≤85%，不结露
